| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第9-11页 |
| 1.2 论文主要工作和创新点 | 第11-13页 |
| 1.2.1 主要工作 | 第11-12页 |
| 1.2.2 创新点 | 第12-13页 |
| 1.3 论文组织结构 | 第13-15页 |
| 第二章 SoC硅前性能评估方法研究综述 | 第15-37页 |
| 2.1 测试程序相关研究 | 第15-27页 |
| 2.1.1 测试程序与测试集简介 | 第15-19页 |
| 2.1.2 测试集子集提取相关研究 | 第19-27页 |
| 2.2 性能分析模型相关研究 | 第27-35页 |
| 2.3 本章小结 | 第35-37页 |
| 第三章 SoC通用处理应用测试集研究 | 第37-59页 |
| 3.1 测试集代表性子集提取概述 | 第37-38页 |
| 3.2 微架构无关负载分析方法研究 | 第38-45页 |
| 3.2.1 微架构无关负载特性定义 | 第39-42页 |
| 3.2.2 微架构无关负载特性获取 | 第42-45页 |
| 3.3 代表性最优子集提取方法研究 | 第45-51页 |
| 3.4 测试集代表性子集提取流程与结果 | 第51-57页 |
| 3.4.1 原始测试集说明 | 第51页 |
| 3.4.2 测试程序特性分析 | 第51页 |
| 3.4.3 测试集代表性子集提取 | 第51-55页 |
| 3.4.4 测试集子集代表性验证 | 第55-57页 |
| 3.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 第四章 SoC硬件性能分析模型研究 | 第59-105页 |
| 4.1 SoC基础架构简介 | 第59-63页 |
| 4.2 微处理器性能分析模型 | 第63-67页 |
| 4.2.1 微处理器性能分析模型简介 | 第63-66页 |
| 4.2.2 微处理器性能分析模型建立 | 第66-67页 |
| 4.3 微处理器程序执行时间与访存延时关系模型 | 第67-81页 |
| 4.3.1 存储级并行度 | 第68-70页 |
| 4.3.2 分离的访存请求(MLP=1) | 第70-76页 |
| 4.3.3 交叠的访存请求(MLP>1) | 第76-81页 |
| 4.4 存储系统访存延时分析模型 | 第81-104页 |
| 4.4.1 目标存储系统简介 | 第81-85页 |
| 4.4.2 访存请求服务流程分析 | 第85-90页 |
| 4.4.3 存储器忙碌时间分析方法 | 第90-98页 |
| 4.4.4 存储系统访存延时分析模型 | 第98-104页 |
| 4.5 本章小结 | 第104-105页 |
| 第五章 SoC性能评估方法验证与应用 | 第105-125页 |
| 5.1 验证环境设计 | 第105-109页 |
| 5.2 存储系统访存延时分析模型验证 | 第109-119页 |
| 5.2.1 存储系统访存延时分析模型验证 | 第109-116页 |
| 5.2.2 存储系统访存延时分析模型验证小结 | 第116-119页 |
| 5.3 微处理器程序执行时间与访存延时关系模型验证 | 第119-120页 |
| 5.4 基于分析模型的SoC硅前性能评估与实际应用 | 第120-123页 |
| 5.5 本章小结 | 第123-125页 |
| 第六章 总结与展望 | 第125-127页 |
| 6.1 研究工作的总结 | 第125-126页 |
| 6.2 进一步研究的展望 | 第126-127页 |
| 致谢 | 第127-129页 |
| 参考文献 | 第129-137页 |
| 博士阶段获得的研究成果 | 第137-138页 |