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微处理器软错误脆弱性建模及缓解技术研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第12-20页
    1.1 软错误脆弱性建模的意义第13页
    1.2 建模面临的问题第13-15页
    1.3 研究动机第15-17页
        1.3.1 适用于设计早期的AVF模型第16页
        1.3.2 揭示软硬件参数对AVF的影响关系第16-17页
        1.3.3 低开销的软错误缓解技术第17页
    1.4 本论文主要贡献第17-18页
    1.5 本论文组织结构第18-20页
第2章 背景知识及相关研究第20-40页
    2.1 软错误的来源及趋势第20-22页
        2.1.1 软错误发现历程第20-21页
        2.1.2 软错误对当前系统的影响第21页
        2.1.3 软错误发生趋势第21-22页
    2.2 可靠性的度量指标第22-23页
    2.3 软错误掩盖效应第23-25页
        2.3.1 电路层软错误掩盖第23-24页
        2.3.2 体系结构层软错误掩盖第24-25页
    2.4 体系结构脆弱因子第25-26页
    2.5 ACE分析第26-31页
        2.5.1 ACE位第27-29页
        2.5.2 利用ACE计算AVF第29-30页
        2.5.3 ACE分析的局限性第30-31页
        2.5.4 统计故障注入的局限性第31页
    2.6 国内外相关研究工作第31-39页
        2.6.1 AVF建模方法第31-36页
        2.6.2 软错误缓解技术第36-39页
    2.7 本章小结第39-40页
第3章 基于并行性约束的AVF分析模型第40-58页
    3.1 AVF与指令占用第40-41页
    3.2 模型概况第41-45页
        3.2.1 机器并行性第42-43页
        3.2.2 程序并行性第43-45页
    3.3 模型的构建第45-51页
        3.3.1 程序特征参数第45-46页
        3.3.2 微处理器模型及体系结构参数第46页
        3.3.3 指令流的数学描述第46-49页
        3.3.4 关键结构指令占用第49-51页
    3.4 un-ACE分析第51-52页
    3.5 实验评估第52-56页
        3.5.1 主机环境与模拟器第52-54页
        3.5.2 实验结果第54-55页
        3.5.3 与典型分析模型比较第55-56页
    3.6 本章小结第56-58页
第4章 AVF与软硬件参数的关系分析第58-80页
    4.1 分析方法第58-59页
    4.2 流水线前端第59-63页
        4.2.1 流水线前端机制第59-60页
        4.2.2 模型在前端的展开第60-61页
        4.2.3 前端关系分析第61-63页
    4.3 发射执行阶段第63-69页
        4.3.1 发射执行阶段机制第63-64页
        4.3.2 模型在发射执行阶段的展开第64-66页
        4.3.3 发射执行阶段关系分析第66-69页
    4.4 退出阶段第69-72页
        4.4.1 退出机制第69-70页
        4.4.2 模型在退出阶段的展开第70页
        4.4.3 退出阶段关系分析第70-72页
    4.5 缺失事件第72-77页
        4.5.1 I-cache缺失事件的影响第72-74页
        4.5.2 DL1 Cache缺失事件的影响第74-76页
        4.5.3 DL2 Cache缺失事件的影响第76-77页
    4.6 AVF与软硬件参数的关系曲线第77-79页
    4.7 本章小结第79-80页
第5章 指令占用与结构尺寸关系探讨第80-92页
    5.1 指令占用的研究现状第80-81页
        5.1.1 指令占用与AVF的关系第80-81页
        5.1.2 指令占用数量与窗口大小的关系第81页
    5.2 指令占用的逻辑斯蒂模型第81-87页
        5.2.1 逻辑斯蒂模型简介第81-82页
        5.2.2 时钟周期指令占用的逻辑斯蒂模型第82-84页
        5.2.3 指令占用与结构尺寸关系的逻辑斯蒂模型第84页
        5.2.4 实验验证第84-87页
    5.3 指令占用及AVF与结构尺寸的关系第87-90页
        5.3.1 指令占用与结构尺寸的关系第87-88页
        5.3.2 AVF与IQ尺寸变化的关系第88-89页
        5.3.3 IQ AVF与其它体系结构参数变化的关系第89-90页
    5.4 本章小结第90-92页
第6章 动态调节IQ尺寸的软错误缓解技术第92-106页
    6.1 研究动机第92-95页
    6.2 动态调节IQ尺寸的方法第95-101页
        6.2.1 IQ动态尺寸选取策略第95-96页
        6.2.2 基本块关键路径分析第96-99页
        6.2.3 具体实施第99-101页
    6.3 实验评估第101-104页
        6.3.1 实验设置第101页
        6.3.2 实验结果第101-104页
        6.3.3 同类方法比较第104页
    6.4 本章小结第104-106页
第7章 调节指令混合比的软错误缓解技术第106-118页
    7.1 指令混合比对AVF的影响第106-107页
    7.2 基于MIF的AVF控制方法第107-110页
        7.2.1 指令流混合比与功能单元配置匹配第107-108页
        7.2.2 AVF控制流程第108-110页
    7.3 基于MIF控制方法的优化第110-112页
        7.3.1 D-cache缺失感知的AVF控制第111页
        7.3.2 可预测D-cache缺失的AVF控制第111-112页
    7.4 实验评估第112-116页
        7.4.1 实验设置第112-113页
        7.4.2 实验结果第113-116页
    7.5 本章小结第116-118页
结论第118-120页
参考文献第120-132页
攻读博士学位期间发表的学术论文第132-133页
致谢第133页

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