非相干条件下的弱散射样品相位恢复成像技术研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 非定量相位检测技术 | 第9-11页 |
| 1.2.1 相衬显微技术 | 第9-11页 |
| 1.2.2 微分干涉相称显微技术 | 第11页 |
| 1.3 定量相位检测技术 | 第11-15页 |
| 1.3.1 全息测量技术 | 第11-13页 |
| 1.3.2 哈特曼波前探测技术 | 第13-14页 |
| 1.3.3 基于强度传输方程相位探测技术 | 第14-15页 |
| 1.3.4 CDI技术发展历程及研究现状 | 第15页 |
| 1.4 本文研究内容及结构 | 第15-17页 |
| 第二章 PIE成像理论基础 | 第17-28页 |
| 2.1 标量衍射理论 | 第17-21页 |
| 2.1.1 基尔霍夫衍射理论 | 第17-19页 |
| 2.1.2 基尔霍夫衍射和夫朗禾费衍射原理 | 第19-21页 |
| 2.2 衍射的角谱理论 | 第21-22页 |
| 2.3 CDI基本原理 | 第22-25页 |
| 2.4 PIE基本原理 | 第25-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 宽谱光源对PIE成像的影响 | 第28-35页 |
| 3.1 宽谱光源对PIE成像的影响 | 第28页 |
| 3.2 polyPIE算法重建步骤 | 第28-30页 |
| 3.3 数值模拟 | 第30-31页 |
| 3.4 E-polyPIE成像原理及数值模拟 | 第31-33页 |
| 3.5 本章小结 | 第33-35页 |
| 第四章 光源空间非相干性对PIE成像的影响 | 第35-40页 |
| 4.1 空间非相干光源照明对PIE成像的影响 | 第35页 |
| 4.2 非相干照明条件下衍射斑理论分析 | 第35-37页 |
| 4.3 数值模拟及实验验证 | 第37-39页 |
| 4.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第五章 部分相干条件下的弱散射样品PIE成像 | 第40-46页 |
| 5.1 部分相干照明条件弱散射样品重建研究 | 第40页 |
| 5.2 理论分析 | 第40-41页 |
| 5.3 数值模拟及实验验证 | 第41-45页 |
| 5.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第六章 总结与展望 | 第46-47页 |
| 6.1 科研成果总结 | 第46页 |
| 6.2 工作展望 | 第46-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-51页 |
| 附录：作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第51页 |
