基于荧光机理的温度测量技术的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·荧光光纤温度传感器的研究现状 | 第12-16页 |
| ·荧光光纤温度传感器的发展历程 | 第12-15页 |
| ·荧光光纤温度传感器的分类 | 第15-16页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第16页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第16-17页 |
| 第2章 荧光测温机理及特性分析 | 第17-32页 |
| ·荧光概述 | 第17页 |
| ·荧光产生的过程 | 第17-20页 |
| ·光的吸收过程 | 第17-18页 |
| ·分子的激发过程 | 第18-19页 |
| ·激发态分子的去活化过程 | 第19-20页 |
| ·荧光材料及其特性 | 第20-22页 |
| ·荧光材料 | 第20-21页 |
| ·荧光材料的特性 | 第21-22页 |
| ·荧光测温机理 | 第22-26页 |
| ·非指数性理论分析 | 第26-28页 |
| ·荧光余辉的截断归一化分析 | 第28-30页 |
| ·改进措施 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 荧光寿命锁相检测技术 | 第32-44页 |
| ·微弱信号检测技术 | 第32-33页 |
| ·锁相环的基本工作原理 | 第33-40页 |
| ·锁相环的组成 | 第33-36页 |
| ·环路模型分析 | 第36-38页 |
| ·环路噪声分析 | 第38-40页 |
| ·荧光寿命锁相检测法 | 第40-43页 |
| ·基本的两相位锁定检测 | 第40-42页 |
| ·锁相原理检测荧光寿命 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 荧光光纤测温系统的设计 | 第44-65页 |
| ·系统总体结构设计 | 第44-45页 |
| ·光纤探头的设计 | 第45页 |
| ·敏感材料的特性 | 第45-46页 |
| ·本系统选用的光纤 | 第46-50页 |
| ·光纤传输的原理 | 第46-48页 |
| ·光纤的传输特性 | 第48-50页 |
| ·光源及驱动电路的设计 | 第50-55页 |
| ·半导体发光二极管 | 第51-52页 |
| ·半导体激光二极管 | 第52-53页 |
| ·氙灯 | 第53页 |
| ·系统光源 | 第53-55页 |
| ·驱动电路 | 第55页 |
| ·光电检测器的选择 | 第55-59页 |
| ·PIN 光电二极管 | 第56-57页 |
| ·光电二极管的特性 | 第57-59页 |
| ·光电检测器的选择 | 第59页 |
| ·光路耦合 | 第59-60页 |
| ·前置放大电路的设计 | 第60-61页 |
| ·滤波电路的设计 | 第61-62页 |
| ·锁相荧光寿命检测 | 第62页 |
| ·单片机系统设计 | 第62-64页 |
| ·A/D 转换器 | 第64页 |
| ·数字信号处理器DSP 部分 | 第64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第5章 数据处理方法与实验结果 | 第65-77页 |
| ·荧光寿命的快速傅里叶变换信号处理 | 第65-67页 |
| ·时频分析 | 第65页 |
| ·荧光寿命的快速傅里叶变换 | 第65-66页 |
| ·时间抽取FFT 算法 | 第66-67页 |
| ·基于小波变换的荧光信号处理 | 第67-71页 |
| ·实验数据与分析 | 第71-76页 |
| ·试验结果与分析 | 第71-74页 |
| ·重复性和稳定性检测 | 第74-75页 |
| ·系统误差分析 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 结论 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 作者简介 | 第85页 |
