| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-23页 |
| ·课题研究的背景 | 第10页 |
| ·课题研究的目的及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外磁记录磁头的类别及其发展 | 第11-13页 |
| ·感应式记录磁头 | 第11-12页 |
| ·磁滞电阻磁头 | 第12页 |
| ·自旋阀读出磁头 | 第12-13页 |
| ·隧道式磁阻传感器 | 第13页 |
| ·隧穿磁阻记录头的原理及应用 | 第13-16页 |
| ·TMR（Tunneling-Magneto-Resistance）现象的原理及特性 | 第13-15页 |
| ·国内外TMR效应的应用 | 第15-16页 |
| ·隧穿磁阻磁头存在的问题 | 第16页 |
| ·硬磁层在磁头结构中的作用 | 第16-21页 |
| ·硬磁偏置层的结构及性能参数 | 第17-18页 |
| ·硬磁层性能对磁头性能的影响 | 第18-21页 |
| ·本课题主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第2章 实验方法与测试原理 | 第23-33页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·试样选择 | 第23-24页 |
| ·实验方法与内容 | 第24-26页 |
| ·温度对硬磁偏置层作用的评估实验 | 第24-25页 |
| ·外场对硬磁偏置层作用的评估实验 | 第25-26页 |
| ·复合场对硬磁偏置层作用的评估实验 | 第26页 |
| ·实验采用的设备与数据记录 | 第26-31页 |
| ·低场静态测试设备QST-2002 | 第26-28页 |
| ·动态测试设备GUZIK2002 | 第28-29页 |
| ·高场静态测试设备HFQST2002 | 第29-31页 |
| ·等温处理设备恒温箱 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第3章 CoPt硬磁偏置层的性能可靠性研究 | 第33-46页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·温度因素与硬磁偏置层性能可靠性的关系 | 第33-38页 |
| ·等温时间与硬磁偏置层性能的关系 | 第34-36页 |
| ·不同温度与硬磁偏置层性能的关系 | 第36-38页 |
| ·外界磁场因素与硬磁偏置层性能可靠性的关系 | 第38-45页 |
| ·外界反向磁场与硬磁偏置层性能的关系 | 第39-42页 |
| ·外界垂直磁场与硬磁偏置层性能的关系 | 第42-43页 |
| ·高场测试中硬磁偏置层稳定的相干条件 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 CoPt硬磁偏置层的可靠性研究 | 第46-55页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·复合场与硬磁偏置层性能可靠性的关系 | 第46-49页 |
| ·磁场退火的原理 | 第46-47页 |
| ·复合场与硬磁偏置层性能的关系 | 第47-49页 |
| ·硬磁偏置层缺陷对其性能的影响 | 第49-53页 |
| ·缺陷对矫顽力的影响 | 第49-50页 |
| ·硬磁偏置层缺陷与其性能的关系 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 致谢 | 第61页 |