同轴和微分相衬成像理论与数值分析研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-33页 |
| ·传统X 射线成像方法 | 第10-12页 |
| ·X 射线相衬成像 | 第12-27页 |
| ·X 射线相衬成像方法比较 | 第27-29页 |
| ·X 射线源与探测器 | 第29-31页 |
| ·本文主要研究内容 | 第31-33页 |
| 2 同轴全息相衬成像理论研究 | 第33-48页 |
| ·弱吸收、弱相位物体成像 | 第33-38页 |
| ·非弱吸收物体成像 | 第38-40页 |
| ·部分相干光源照射下的相衬成像 | 第40-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 3 同轴全息相衬成像数值计算 | 第48-65页 |
| ·成像系统的调制传递函数 | 第48-50页 |
| ·传输距离的影响 | 第50-52页 |
| ·光源的空间相干性对成像的影响 | 第52-56页 |
| ·时间相干性及X 射线管管电压对衬度的影响 | 第56-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 4 微分相衬成像理论及系统设计考虑 | 第65-96页 |
| ·X 射线光栅Talbot 自成像 | 第65-69页 |
| ·相位光栅成像 | 第69-72页 |
| ·相位物体对干涉条纹的畸变 | 第72-75页 |
| ·光栅衍射效率 | 第75-83页 |
| ·光栅条纹对比度 | 第83-85页 |
| ·部分相干光源光栅成像 | 第85-95页 |
| ·本章小结 | 第95-96页 |
| 5 条纹的探测及相位信息的获取 | 第96-110页 |
| ·Fourier 变换解法 | 第96-101页 |
| ·Phase-Step 解法 | 第101-105页 |
| ·模拟计算 | 第105-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 6 总结与展望 | 第110-115页 |
| ·总结 | 第110-111页 |
| ·相衬成像技术发展展望 | 第111-115页 |
| 致谢 | 第115-116页 |
| 参考文献 | 第116-124页 |
| 附录1 攻读学位期间发表论文目录 | 第124-125页 |
| 附录2 基于强度弱吸收物体相衬成像 | 第125-127页 |
| 附录3 点光源相衬成像 | 第127-128页 |
