| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-34页 |
| ·无损评价概述 | 第11-15页 |
| ·无损评价的目标和作用 | 第11-12页 |
| ·无损评价的检测技术 | 第12-14页 |
| ·无损评价的新成员—热波检测技术 | 第14-15页 |
| ·光热效应概述 | 第15-23页 |
| ·光热效应产生的原理 | 第15-16页 |
| ·光热效应的检测技术及其分类 | 第16-22页 |
| ·光热光声效应的应用 | 第22-23页 |
| ·热波检测技术 | 第23-30页 |
| ·光热偏转检测技术 | 第23-24页 |
| ·光热偏转技术的检测方式 | 第24-25页 |
| ·热波成像技术 | 第25-27页 |
| ·热波成像技术的最新发展 | 第27-30页 |
| ·热波检测技术的现状及本研究的目标 | 第30-32页 |
| ·国际研究现状 | 第30页 |
| ·国内研究现状 | 第30-31页 |
| ·本研究目标的提出 | 第31-32页 |
| ·本研究的内容和技术关键 | 第32-33页 |
| ·研究内容 | 第32页 |
| ·拟解决的关键问题 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第二章 热波检测技术的理论 | 第34-52页 |
| ·激光对物质的热作用 | 第34-38页 |
| ·固体材料的热物理性质 | 第34-36页 |
| ·材料对激光的吸收 | 第36-38页 |
| ·热传导方程及其解析解 | 第38-45页 |
| ·热传导方程 | 第38-40页 |
| ·对于热物性参数为恒量的无限大介质内热传导方程的解 | 第40-45页 |
| ·温度场的三层介质模型 | 第45-46页 |
| ·三层介质模型 | 第45-46页 |
| ·三层介质模型的解 | 第46页 |
| ·光束偏转角的计算 | 第46-48页 |
| ·固体光热效应的热传导模型 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第三章 热波检测系统的设计 | 第52-77页 |
| ·检测系统总体介绍 | 第52-54页 |
| ·泵浦光源及其频率调制控制 | 第54-57页 |
| ·半导体激光器 | 第54-55页 |
| ·恒流调制电源 | 第55-57页 |
| ·探测光源及其光机机构 | 第57-58页 |
| ·样品台与三维扫描机构 | 第58页 |
| ·样品台 | 第58页 |
| ·三维扫描机构 | 第58页 |
| ·检测系统的器件与电路 | 第58-63页 |
| ·光电转换系统的组成 | 第59-60页 |
| ·位置探测器及差分偏置电路 | 第60-63页 |
| ·步进电机控制电路 | 第63页 |
| ·软件设计 | 第63-71页 |
| ·电机控制和数据采集软件的设计 | 第63-70页 |
| ·数据处理软件的设计 | 第70-71页 |
| ·热波成像检测系统中的仪器及其作用 | 第71-72页 |
| ·影响热波成像检测系统信号的因素 | 第72-75页 |
| ·测量精度 | 第72-75页 |
| ·测量速度 | 第75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第四章 金属材料次表面结构的检测 | 第77-90页 |
| ·引言 | 第77页 |
| ·固体材料次表面缺陷的检测 | 第77-79页 |
| ·信号与样品的厚度及频率的关系 | 第79-80页 |
| ·不同激发频率下试样的次表面信息 | 第80-83页 |
| ·差分运算后试样的薄层信息 | 第83-84页 |
| ·幅值信号与相位信号的空间分辨率 | 第84-88页 |
| ·结论 | 第88页 |
| ·讨论 | 第88-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| 第五章 光学薄膜激光损伤的检测 | 第90-117页 |
| ·光学薄膜激光损伤研究的目的和意义 | 第90-91页 |
| ·光学薄膜激光损伤研究的研究现状 | 第91-93页 |
| ·光学薄膜激光损伤的机理 | 第93-97页 |
| ·本征吸收和热损伤 | 第93-94页 |
| ·自聚焦效应 | 第94页 |
| ·电子崩和多光子电离 | 第94-95页 |
| ·杂质缺陷、超声波和非线性吸收 | 第95-97页 |
| ·检测光学薄膜损伤的几种主要研究方法 | 第97-99页 |
| ·透射反射扫描法 | 第97-98页 |
| ·散射光检测法 | 第98页 |
| ·光声检测法 | 第98-99页 |
| ·金属薄膜激光损伤的检测 | 第99-112页 |
| ·金属薄膜损伤阈值的检测装置 | 第100-101页 |
| ·实验方法 | 第101-111页 |
| ·实验结果与分析 | 第111-112页 |
| ·介质薄膜激光损伤阈值的检测 | 第112-116页 |
| ·介质薄膜损伤阈值的透射OBD检测装置 | 第112-113页 |
| ·实验方法 | 第113-115页 |
| ·实验结果与分析 | 第115-116页 |
| ·结论 | 第116页 |
| ·本章小结 | 第116-117页 |
| 第六章 薄膜质量综合评价方法 | 第117-123页 |
| ·光学薄膜多参数质量评价的原理 | 第117-119页 |
| ·光学薄膜多参数检测装置及样品 | 第119-120页 |
| ·光学薄膜的多参数检测与结果 | 第120-121页 |
| ·热波成像技术在薄膜评价中的特点 | 第121页 |
| ·结论 | 第121-122页 |
| ·本章小结 | 第122-123页 |
| 第七章 总结与展望 | 第123-125页 |
| 参考文献 | 第125-131页 |
| 攻读博士学位期间参加的科研工作 | 第131页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第131-133页 |
| 致射 | 第133页 |