雷达吸波材料反射率测试技术的研究与应用
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 概述 | 第11-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 论文主要工作 | 第12-13页 |
| 1.3 论文结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 雷达波吸波材料反射率测试技术概述 | 第14-18页 |
| 2.1 弓形测试技术 | 第14-15页 |
| 2.2 微波暗室测试技术 | 第15-16页 |
| 2.3 同轴测试技术 | 第16-17页 |
| 2.4 样板空间平移测试技术 | 第17-18页 |
| 第三章 反射率弓形测试技术研究和应用 | 第18-41页 |
| 3.1 弓形测试技术原理 | 第18页 |
| 3.2 弓形支架的设计和制作 | 第18-20页 |
| 3.2.1 弓形支架的功能 | 第19页 |
| 3.2.2 弓形支架设计的主要原理 | 第19页 |
| 3.2.3 弓形支架的设计方法 | 第19-20页 |
| 3.3 标准板和材料测试样板的制备 | 第20-23页 |
| 3.3.1 标准板的制备实施 | 第20-22页 |
| 3.3.2 测试样板的制备实施 | 第22-23页 |
| 3.4 测试背景环境的设计和实现 | 第23-26页 |
| 3.5 弓形技术反射率测试系统构成 | 第26-29页 |
| 3.6 测试结果和分析 | 第29-38页 |
| 3.7 测试系统的误差来源及分析 | 第38-41页 |
| 3.7.1 吸波材料测试样板形状对测试结果的影响 | 第38-39页 |
| 3.7.2 大角度入射对测试结果的影响 | 第39-40页 |
| 3.7.3 天线间杂散耦合对测试结果的影响 | 第40页 |
| 3.7.4 客观因素对测试结果的影响 | 第40-41页 |
| 第四章 反射率微波暗室测试技术研究和应用 | 第41-65页 |
| 4.1 微波暗室测试技术原理 | 第41-42页 |
| 4.2 微波暗室的电性能描述 | 第42-44页 |
| 4.2.1 静区 | 第42-43页 |
| 4.2.2 反射率水平 | 第43页 |
| 4.2.3 交叉极化 | 第43页 |
| 4.2.4 现场幅度均匀性 | 第43页 |
| 4.2.5 多路径损耗 | 第43-44页 |
| 4.2.6 工作频率范围 | 第44页 |
| 4.2.7 RCS固有特性 | 第44页 |
| 4.3 微波暗室的电性能设计 | 第44-48页 |
| 4.3.1 微波暗室结构的选择 | 第44-46页 |
| 4.3.2 矩形微波暗室尺寸的确定 | 第46-47页 |
| 4.3.3 背景材料的选择 | 第47-48页 |
| 4.4 微波暗室的工艺设计 | 第48-49页 |
| 4.5 微波暗室反射率测试系统构成 | 第49-51页 |
| 4.6 微波暗室的测试步骤 | 第51-55页 |
| 4.7 测试结果和分析 | 第55-63页 |
| 4.8 测试系统存在的误差来源及分析 | 第63-65页 |
| 4.8.1 测试位置误差 | 第63页 |
| 4.8.2 定标体引入的校准误差 | 第63页 |
| 4.8.3 背景回波产生的误差 | 第63页 |
| 4.8.4 客观因素产生的误差 | 第63-65页 |
| 第五章 总结展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第71页 |
