| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 超导体发展历史简介 | 第9-11页 |
| 1.2 高温超导涂层体的发展及其应用 | 第11-12页 |
| 1.3 接头结构在高温超导体中的应用 | 第12-14页 |
| 1.4 国内外针对接头结构电磁及力学行为相关研究 | 第14页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 高温超导基本理论 | 第16-26页 |
| 2.1 超导体E-J本构关系 | 第16-18页 |
| 2.2 H方法 | 第18-23页 |
| 2.3 带材厚度扩大模型介绍与H方法有效性验证 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 YBCO高温超导带材接头的电磁行为研究 | 第26-43页 |
| 3.1 几何模型简化和网格优化 | 第26-29页 |
| 3.2 结果与讨论 | 第29-41页 |
| 3.2.1 搭接长度对于接头交流损耗的影响 | 第30-31页 |
| 3.2.2 接头搭接长度对搭接部分损耗分布的影响 | 第31-32页 |
| 3.2.3 接头搭接段各部分中的电流以及损耗的分布情况 | 第32-38页 |
| 3.2.4 接头焊接层厚度对损耗的影响 | 第38-41页 |
| 3.3 本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 焊层缺陷对搭接接头结构电磁行为的影响 | 第43-59页 |
| 4.1 几何模型介绍 | 第43-44页 |
| 4.2 结果与讨论 | 第44-58页 |
| 4.2.1 中心虚焊缺陷 | 第45-50页 |
| 4.2.2 固定长度的虚焊缺陷处于接头焊层中不同位置 | 第50-54页 |
| 4.2.3 边缘脱焊缺陷 | 第54-58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 结论与展望 | 第59-62页 |
| 5.1 结论 | 第59-60页 |
| 5.2 展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-69页 |
| 在学期间的研究成果 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |