带物理不可克隆功能的CMOS图像传感器设计与实现
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第10-13页 |
| 1.1.1 论文研究背景 | 第10-11页 |
| 1.1.2 论文研究意义 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第13-14页 |
| 1.3 论文创新点及内容结构安排 | 第14-17页 |
| 1.3.1 论文创新点 | 第14-15页 |
| 1.3.2 论文主要研究内容及结构安排 | 第15-17页 |
| 第2章 CMOS图像传感器概述 | 第17-26页 |
| 2.1 图像传感的历史背景 | 第17-18页 |
| 2.2 CCD图像传感器 | 第18-21页 |
| 2.3 CMOS图像传感器 | 第21-25页 |
| 2.3.1 光电传感前端及电路 | 第22-23页 |
| 2.3.2 CMOS图像传感系统结构 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 CMOS图像传感器的噪音 | 第26-33页 |
| 3.1 模式噪音 | 第26-29页 |
| 3.2 kTC噪音 | 第29-30页 |
| 3.3 光子散粒噪音 | 第30-31页 |
| 3.4 暗电流 | 第31-32页 |
| 3.5 热噪音 | 第32页 |
| 3.6 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 CMOS图像传感器设计 | 第33-46页 |
| 4.1 图像传感器阵列结构 | 第33-36页 |
| 4.2 相关双采样电路 | 第36-37页 |
| 4.3 模数转换电路 | 第37-40页 |
| 4.4 数模转换器 | 第40-41页 |
| 4.5 列电路与PUF功能 | 第41-42页 |
| 4.6 带隙基准 | 第42-45页 |
| 4.7 本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 物理不可克隆及其实现 | 第46-62页 |
| 5.1 提取物理不可克隆信息 | 第46-48页 |
| 5.2 唯一性 | 第48-51页 |
| 5.2.1 工作温度与唯一性关系 | 第48-49页 |
| 5.2.2 电源电压与唯一性关系 | 第49-50页 |
| 5.2.3 入射光强与唯一性关系 | 第50-51页 |
| 5.3 误码率 | 第51-53页 |
| 5.3.1 工作温度与误码率关系 | 第51-52页 |
| 5.3.2 电源电压与误码率关系 | 第52页 |
| 5.3.3 入射光强与误码率关系 | 第52-53页 |
| 5.4 均匀性 | 第53-55页 |
| 5.4.1 工作温度与均匀性关系 | 第53-54页 |
| 5.4.2 电源电压与均匀性关系 | 第54页 |
| 5.4.3 入射光强与均匀性关系 | 第54-55页 |
| 5.5 降低误码率的方法 | 第55-57页 |
| 5.6 改进后的实验结果 | 第57-59页 |
| 5.7 应用 | 第59-61页 |
| 5.7.1 图像传感器的认证防伪 | 第59-61页 |
| 5.7.2 移动设备的应用 | 第61页 |
| 5.8 本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 总结与展望 | 第62-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第69页 |
