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一种基于CDMOS工艺的一次性可编程存储器的研制

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-16页
第一章 绪论第16-24页
    1.1 存储器的简介及分类第16-19页
    1.2 研究的背景和意义第19-21页
    1.3 中外OTP存储器的生长近况第21-23页
    1.4 论文章节的组成第23-24页
第二章 OTP的基本工作原理第24-34页
    2.1 存储单元的基本结构第24-25页
    2.2 工作机理的研究第25-27页
    2.3 存储单元的工作机制第27-31页
        2.3.1 存储单元的编程第28-29页
        2.3.2 存储单元的读取第29-30页
        2.3.3 存储单元的擦除第30-31页
    2.4 存储阵列布局的研究第31-32页
    2.5 存储器的设计第32-33页
    2.6 本章小结第33-34页
第三章 OTP存储器的电路模块分析第34-46页
    3.1 OTP器件的结构和制作方法第34-35页
    3.2 外围电路的设计第35-40页
        3.2.1 时序控制电路设计第36-38页
        3.2.2 地址译码电路第38-40页
    3.3 内部OTP核心电路设计第40-45页
        3.3.1 偏置电路第41-42页
        3.3.2 灵敏放大器(sense amplifier)第42-44页
        3.3.3 高压电路第44页
        3.3.4 存储阵列电路的设计第44-45页
    3.4 本章总结第45-46页
第四章 版图设计第46-60页
    4.1 版图的整体布局第47页
    4.2 布局布线第47-48页
        4.2.1 布局第48页
        4.2.2 布线第48页
    4.3 版图中的注意点第48-50页
        4.3.1 器件版图匹配第49-50页
        4.3.2 金属的注意点和闩锁效应第50页
    4.4 OTP存储器版图的设计第50-57页
        4.4.1 灵敏放大器的版图设计第52-53页
        4.4.2 逻辑控制模块版图第53-55页
        4.4.3 偏置电路的版图第55页
        4.4.4 电平转换第55-57页
    4.5 本章总结第57-60页
第五章 存储器的测试和应用第60-68页
    5.1 芯片的测试第61-62页
    5.2 芯片的仿真验证第62-64页
    5.3 芯片的实际应用第64-68页
第六章 总结与展望第68-70页
    6.1 论文总结第68-69页
    6.2 论文展望第69-70页
参考文献第70-74页
致谢第74-76页
作者简介第76-77页

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