边界扫描在数字电路故障诊断中的应用
| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第8-12页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-9页 |
| 1.2 故障诊断技术的发展趋势和现状 | 第9-10页 |
| 1.3 论文主要内容 | 第10-12页 |
| 第二章 数字电路常见的诊断方法 | 第12-24页 |
| 2.1 数字电路故障诊断基本原理 | 第13页 |
| 2.2 数字电路中常见逻辑故障诊断 | 第13-24页 |
| 2.2.1 组合逻辑电路的故障诊断 | 第14-17页 |
| 2.2.2 时序逻辑电路的故障诊断 | 第17-24页 |
| 第三章 边界扫描的基本理论 | 第24-36页 |
| 3.1 边界扫描技术参数 | 第25-28页 |
| 3.2 边界扫描基本结构 | 第28-34页 |
| 3.2.1 TAP控制器 | 第29-32页 |
| 3.2.2 寄存器 | 第32-34页 |
| 3.3 边界扫描测试常见算法 | 第34-36页 |
| 第四章 边界扫描的可测性研究 | 第36-41页 |
| 4.1 器件的边界扫描特性研究 | 第36页 |
| 4.2 电路的可测性研究 | 第36-41页 |
| 4.2.1 电路中第一类器件的测试 | 第37-38页 |
| 4.2.2 电路中第二类器件的测试 | 第38-39页 |
| 4.2.3 电路中第三类器件的测试 | 第39-41页 |
| 第五章 边界扫描测试系统设计 | 第41-50页 |
| 5.1 测试系统的软件设计 | 第41-46页 |
| 5.1.1 TAP控制器测试 | 第41-42页 |
| 5.1.2 边界扫描器件自测 | 第42-43页 |
| 5.1.3 边界扫描测试 | 第43-46页 |
| 5.2 测试系统的硬件设计 | 第46-47页 |
| 5.3 测试系统实验验证 | 第47-50页 |
| 第六章 总结与展望 | 第50-52页 |
| 6.1 本文工作总结 | 第50页 |
| 6.2 研究展望 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
