| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外硅微机械陀螺检测方法研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 国外硅微机械陀螺检测电路研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.2 国内硅微机械陀螺检测电路研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 论文主要内容 | 第16-18页 |
| 2 Sigma-delta调制器工作原理 | 第18-28页 |
| 2.1 模数转换原理 | 第18-20页 |
| 2.2 Sigma-delta调制器基本原理 | 第20-24页 |
| 2.2.1 过采样 | 第20-21页 |
| 2.2.2 噪声整形 | 第21-23页 |
| 2.2.3 一位量化输出 | 第23-24页 |
| 2.3 高阶Sigma-delta调制器 | 第24-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 机电结合SDM闭环结构设计及参数获取 | 第28-42页 |
| 3.1 硅微陀螺的离散化 | 第28-31页 |
| 3.1.1 硅微陀螺检测原理 | 第28-29页 |
| 3.1.2 硅微陀螺检测模态的离散化 | 第29-31页 |
| 3.2 带通离散时间SDM设计 | 第31-38页 |
| 3.3 离散时间SDM到机电结合SDM的转换 | 第38-40页 |
| 3.4 设计方案流程 | 第40-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 4 机电结合SDM闭环检测方法的Simulink仿真 | 第42-53页 |
| 4.1 Simulink中的模块设计 | 第42-48页 |
| 4.2 Simulink仿真与分析 | 第48-52页 |
| 4.3 本章小结 | 第52-53页 |
| 5 陀螺高阶带通SDM闭环检测电路设计及实验验证 | 第53-67页 |
| 5.1 原理图设计 | 第53-59页 |
| 5.1.1 前置运放电路 | 第53-56页 |
| 5.1.2 ADC采样模块 | 第56-57页 |
| 5.1.3 一位DAC反馈环节 | 第57-59页 |
| 5.2 FPGA信号处理 | 第59-62页 |
| 5.3 实验 | 第62-66页 |
| 5.3.1 调谐 | 第63-64页 |
| 5.3.2 测试 | 第64-66页 |
| 5.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 6 总结与展望 | 第67-70页 |
| 6.1 总结 | 第67-68页 |
| 6.2 创新点 | 第68页 |
| 6.3 展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 附录A | 第74页 |