| 作者简介 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-31页 |
| ·高功率微波及其应用 | 第11-14页 |
| ·高功率微波效应 | 第14-19页 |
| ·HPM 效应 | 第14-17页 |
| ·HPM 作用对象分析 | 第17-19页 |
| ·国内外研究状况 | 第19-21页 |
| ·国内研究状况 | 第19页 |
| ·美国研究状况 | 第19-20页 |
| ·俄罗斯研究状况 | 第20页 |
| ·国内外研究状况总结 | 第20-21页 |
| ·HPM 效应研究目的与方法 | 第21-28页 |
| ·研究目的 | 第21页 |
| ·研究方法 | 第21-28页 |
| ·本论文研究目的、内容和方法 | 第28-31页 |
| ·本论文研究目的 | 第28页 |
| ·研究内容 | 第28-29页 |
| ·研究方法 | 第29-31页 |
| 第二章 半导体器件 HPM 非线性效应研究 | 第31-73页 |
| ·引言 | 第31-34页 |
| ·线性效应 | 第31页 |
| ·非线性效应 | 第31-34页 |
| ·HPM 非线性检波效应 | 第34-42页 |
| ·非线性检波原理 | 第34-36页 |
| ·非线性检波效应实验研究 | 第36-40页 |
| ·HPM 非线性检波效应现象分析 | 第40-42页 |
| ·非线性检波效应小结 | 第42页 |
| ·非线性变频效应 | 第42-46页 |
| ·非线性变频原理 | 第42-45页 |
| ·非线性变频效应实验研究 | 第45-46页 |
| ·非线性变频效应小结 | 第46页 |
| ·非线性压缩效应 | 第46-57页 |
| ·HPM 非线性压缩原理 | 第46-47页 |
| ·非线性压缩效应实验研究 | 第47-48页 |
| ·非线性压缩现象分析 | 第48-57页 |
| ·非线性压缩效应小结 | 第57页 |
| ·HPM 非线性损伤效应 | 第57-71页 |
| ·HPM 非线性损伤现象 | 第57-61页 |
| ·HPM 非线性损伤效应实验研究 | 第61-63页 |
| ·HPM 非线性损伤效应分析 | 第63-71页 |
| ·HPM 非线性损伤效应小结 | 第71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 第三章 双极型晶体管 HPM 损伤效应研究 | 第73-91页 |
| ·注入法效应实验 | 第73-75页 |
| ·从基极注入 | 第73-74页 |
| ·从集电极注入 | 第74页 |
| ·从发射极注入 | 第74-75页 |
| ·受损晶体管的直流特性分析 | 第75-81页 |
| ·注入法损伤器件 | 第75-81页 |
| ·直接辐照法损伤器件 | 第81页 |
| ·基极注入微波的 BJT 损伤机理研究 | 第81-85页 |
| ·HPM 效应引起器件特性失效物理过程 | 第81-82页 |
| ·BJT 器件 HPM 效应仿真的物理模型 | 第82-83页 |
| ·器件仿真 | 第83-84页 |
| ·实验与仿真结果对比与分析 | 第84-85页 |
| ·双极晶体管失效分析结果 | 第85-88页 |
| ·注入法损伤器件失效情况 | 第86-87页 |
| ·直接辐照法损伤器件的失效情况 | 第87-88页 |
| ·C 型管结构特征 | 第88页 |
| ·双极晶体管小结 | 第88-91页 |
| 第四章 MOSFET 高功率微波效应研究 | 第91-107页 |
| ·MOSFET 的效应实验研究 | 第91-94页 |
| ·栅极注入微波 | 第91-92页 |
| ·漏极注入微波 | 第92-93页 |
| ·源极注入微波 | 第93-94页 |
| ·MOSFET 高功率微波效应结果分析 | 第94-96页 |
| ·MOEFET 失效理论分析 | 第94-95页 |
| ·失效结果解剖分析 | 第95-96页 |
| ·栅极注入微波的 NMOSFET 特性退化机理研究 | 第96-101页 |
| ·HPM 引起器件特性退化的物理过程[5] | 第96-97页 |
| ·HPM 引起器件特性退化物理模型 | 第97-98页 |
| ·器件结构与仿真 | 第98-101页 |
| ·漏极注入微波的 NMOSFET 热电损伤机理研究 | 第101-106页 |
| ·nMOSFET 漏极注入 HPM 的等效电压脉冲模型 | 第101页 |
| ·nMOSFET 二维热电效应模型 | 第101-103页 |
| ·器件模拟与结果分析 | 第103-105页 |
| ·仿真结果和实验结果对比 | 第105-106页 |
| ·MOSFET 效应研究小结 | 第106-107页 |
| 第五章 PWM 集成电路 HPM 效应研究 | 第107-121页 |
| ·X1525 简介 | 第107页 |
| ·X1525 效应实验研究 | 第107-112页 |
| ·从引脚 1 注入 | 第108-109页 |
| ·从引脚 2 注入 | 第109页 |
| ·从引脚 5 注入 | 第109-110页 |
| ·从引脚 6 注入 | 第110页 |
| ·从引脚 8 注入 | 第110页 |
| ·从引脚 9 注入 | 第110-111页 |
| ·从 11 脚注入 | 第111页 |
| ·从 14 脚注入 | 第111-112页 |
| ·辐照实验 | 第112页 |
| ·损伤后功能测试与失效分析 | 第112-118页 |
| ·模拟集成电路 HPM 效应小结 | 第118-121页 |
| 第六章 总结与展望 | 第121-123页 |
| ·论文取得的创新性成果 | 第121-122页 |
| ·不足之处 | 第122页 |
| ·展望 | 第122-123页 |
| 致谢 | 第123-125页 |
| 参考文献 | 第125-131页 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 | 第131-133页 |
| 学术论文 | 第131页 |
| 参加研究的科研项目 | 第131-133页 |
