一种基于电流倒向技术的四线制微弱电阻测量方法
| 一、引言 | 第1-10页 |
| (一) 研究背景 | 第8-9页 |
| (二) 微弱信号测量技术的现状与存在的问题 | 第9-10页 |
| 二、微弱直流信号检测的噪声与误差分析 | 第10-22页 |
| (一) 微弱直流信号检测中的噪声 | 第10-17页 |
| (二) 微弱直流信号检测的主要误差源 | 第17-22页 |
| 三、微弱直流信号检测的主要方法 | 第22-29页 |
| (一) 调制与解调 | 第22-23页 |
| (二) 斩波放大 | 第23-25页 |
| (三) 锁定放大 | 第25-26页 |
| (四) 自稳零技术 | 第26-29页 |
| 四、一种新型微电阻测量仪的设计 | 第29-47页 |
| (一) 问题的提出 | 第29页 |
| (二) 测量的基本思想与方法 | 第29-36页 |
| 1．三种电阻测量方法的比较 | 第30-32页 |
| 2．消除直流误差源的方法 | 第32-33页 |
| 3．采用电流倒向技术的四线制电阻测量方法 | 第33-34页 |
| 4．工频干扰的抑制 | 第34-36页 |
| (三) 测量系统的构造与设计 | 第36-47页 |
| 1．系统组成 | 第36-37页 |
| 2．放大倍数的选择 | 第37-38页 |
| 3．单级放大倍数的选择 | 第38-40页 |
| 4．分阶段放大 | 第40-44页 |
| 5．饱和判别单元 | 第44页 |
| 6．恒流源的设计 | 第44-47页 |
| 五、硬件电路的设计 | 第47-62页 |
| (一) 恒流源的设计 | 第47-53页 |
| 1．测试电流的给定 | 第47-51页 |
| 2．测试电流方向的控制 | 第51-53页 |
| (二) 第一阶段放大电路的设计 | 第53-58页 |
| 1．第一阶段放大电路的输入级 | 第54-55页 |
| 2．测试电流的检测 | 第55-58页 |
| (三) 采样保持和第二放大阶段的电路设计 | 第58-62页 |
| 1．第一阶段放大结果的采样保持 | 第58-60页 |
| 2．第二阶段放大 | 第60-62页 |
| 六、实验结果验证 | 第62-69页 |
| (一) 实验系统的组成 | 第62页 |
| (二) 测试工具 | 第62页 |
| (三) 微弱电阻测量板 | 第62-63页 |
| (四) 实验过程及结果 | 第63-69页 |
| 七、结论 | 第69-70页 |
| 八、参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
