| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 宽电压SRAM研究背景及设计挑战 | 第9-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 研究内容 | 第13页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第13-14页 |
| 1.5 本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 SRAM时序推测技术设计综述 | 第15-23页 |
| 2.1 SRAM简介 | 第15-17页 |
| 2.1.1 SRAM整体结构 | 第15-16页 |
| 2.1.2 SRAM存储单元的工作原理 | 第16-17页 |
| 2.2 时序推测优化技术设计综述 | 第17-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 时序推测型存储阵列的设计 | 第23-45页 |
| 3.1 时序推测方案的原理设计 | 第23-26页 |
| 3.2 时序推测方案的电路设计 | 第26-34页 |
| 3.2.1 时序推测型存储阵列的整体结构 | 第26-27页 |
| 3.2.2 灵敏放大器的设计 | 第27-28页 |
| 3.2.3 切换开关的设计 | 第28-29页 |
| 3.2.4 锁存器的设计 | 第29-30页 |
| 3.2.5 总线检测电路的设计 | 第30-33页 |
| 3.2.6 时序推测方案的工作过程 | 第33-34页 |
| 3.3 噪声分析 | 第34-37页 |
| 3.3.1 灵敏放大器的泄漏电流对灵敏放大器输入电压的影响 | 第34-35页 |
| 3.3.2 存储单元的泄漏电流对灵敏放大器输入电压的影响 | 第35页 |
| 3.3.3 串扰对灵敏放大器输入电压的影响 | 第35-36页 |
| 3.3.4 电荷共享对灵敏放大器输入电压的影响 | 第36-37页 |
| 3.4 仿真结果 | 第37-42页 |
| 3.4.1 HSPICE-MATLAB混合仿真方法 | 第37-40页 |
| 3.4.2 仿真结果 | 第40-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-45页 |
| 第四章 宽电压SRAM的设计 | 第45-63页 |
| 4.1 电路设计 | 第45-50页 |
| 4.1.1 电路结构 | 第45-48页 |
| 4.1.2 SRAM版图的设计 | 第48-49页 |
| 4.1.3 SRAM测试模块的设计 | 第49-50页 |
| 4.2 仿真结果 | 第50-53页 |
| 4.2.1 稳定性仿真 | 第50-51页 |
| 4.2.2 功能仿真 | 第51-52页 |
| 4.2.3 性能仿真 | 第52-53页 |
| 4.3 时序推测方案的对比分析 | 第53-60页 |
| 4.3.1 工作模式对比 | 第53-54页 |
| 4.3.2 性能能耗面积对比 | 第54-58页 |
| 4.3.3 吞吐率对比 | 第58-59页 |
| 4.3.4 时序推测方案的对比总结 | 第59-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 总结 | 第63-64页 |
| 5.2 展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 作者简介 | 第71页 |
