| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状分析 | 第11-16页 |
| 1.2.1 功率器件失效机理研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 功率器件状态监测与评估研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.3 不同状态监测方法的比较分析 | 第15-16页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第16-19页 |
| 2 基于多场耦合的MOSFET器件失效机理分析 | 第19-35页 |
| 2.1 引言 | 第19-20页 |
| 2.2 功率MOSFET电-热-力耦合场模型 | 第20-23页 |
| 2.2.1 功率MOSFET封装结构概述 | 第20-21页 |
| 2.2.2 多物理场模型求解与实现 | 第21-23页 |
| 2.3 MOSFET多物理场有限元模型的建立 | 第23-29页 |
| 2.3.1 材料属性参数设置 | 第23-27页 |
| 2.3.2 多物理场耦合模型载荷与边界条件设定 | 第27-28页 |
| 2.3.3 MOS器件有限元仿真模型有效性验证 | 第28-29页 |
| 2.4 功率循环条件下的焊料层失效机理分析 | 第29-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-35页 |
| 3 MOSFET器件的特征参量辨识 | 第35-51页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 器件在不同失效形式下的特征参量特性分析 | 第35-46页 |
| 3.2.1 焊料层空洞对器件电热力特性的影响 | 第36-40页 |
| 3.2.2 焊料层疲劳分层对器件电热特性的影响 | 第40-44页 |
| 3.2.3 键合引线脱落程度对器件电热特性的影响 | 第44-46页 |
| 3.3 焊料层老化失效的特征参量辨识 | 第46-49页 |
| 3.3.1 特征参量甄选及其灵敏性分析 | 第46-48页 |
| 3.3.2 特征参量样本数据获取 | 第48-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 4 功率MOSFET状态监测与评估模型研究 | 第51-71页 |
| 4.1 引言 | 第51-52页 |
| 4.2 基于特征参量的MOSFET健康状态评估模型 | 第52-60页 |
| 4.2.1 基于智能算法的功率器件状态评估模型 | 第52-53页 |
| 4.2.2 ANFIS算法原理及系统结构 | 第53-54页 |
| 4.2.3 基于ANFIS算法的状态评估模型构建 | 第54-59页 |
| 4.2.4 评估模型结果分析 | 第59-60页 |
| 4.3 基于有限元仿真的状态评估模型有效性验证 | 第60-64页 |
| 4.3.1 常用智能算法分析比较 | 第60-61页 |
| 4.3.2 基于焊料层不同损伤类型的状态评估 | 第61-62页 |
| 4.3.3 基于器件不同运行工况的状态评估 | 第62-64页 |
| 4.4 基于MOSFET器件的工程应用试验 | 第64-70页 |
| 4.4.1 DC-DC变流器试验平台搭建 | 第64-69页 |
| 4.4.2 状态监测的工程化方案 | 第69-70页 |
| 4.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 5 结论与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 主要结论 | 第71-72页 |
| 5.2 工作展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-81页 |
| 附录 | 第81页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第81页 |
| B.作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第81页 |