| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 磁光克尔效应及其应用 | 第9-10页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第11页 |
| 1.4 研究目的及意义 | 第11-12页 |
| 1.5 本论文的主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 磁光克尔效应理论 | 第14-31页 |
| 2.1 磁光效应的概述 | 第14-17页 |
| 2.1.1 法拉第效应 | 第14页 |
| 2.1.2 磁光克尔效应 | 第14-17页 |
| 2.2 磁光克尔效应与介电张量 | 第17-19页 |
| 2.3 克尔效应的代数计算 | 第19-24页 |
| 2.4 三温度模型 | 第24-30页 |
| 2.5 小结 | 第30-31页 |
| 第三章 二维电子材料MOS_2的物理特性 | 第31-36页 |
| 3.1 MOS_2基本特性 | 第31-34页 |
| 3.2 MOS_2的应用 | 第34-35页 |
| 3.3 小结 | 第35-36页 |
| 第四章 MOKE和TR-MOKE的系统搭建 | 第36-45页 |
| 4.1 系统整体结构 | 第36-37页 |
| 4.2 各部分系统组成 | 第37-40页 |
| 4.3 数据采集及处理 | 第40-44页 |
| 4.3.1 分束探测 | 第40-41页 |
| 4.3.2 差分探测 | 第41-42页 |
| 4.3.3 模拟差分与数字差分 | 第42-44页 |
| 4.4 超连续白光的产生 | 第44页 |
| 4.5 小结 | 第44-45页 |
| 第五章 MOS_2磁光特性研究 | 第45-55页 |
| 5.1 宽光谱MOKE功能验证 | 第45-49页 |
| 5.2 MOS_2数据测量 | 第49-54页 |
| 5.2.1 反射谱 | 第49-50页 |
| 5.2.2 XRD衍射图 | 第50页 |
| 5.2.3 MOKE方法测量克尔旋转角与波长的关系 | 第50-51页 |
| 5.2.4 TR-MOKE方法测量克尔旋转角与波长的关系 | 第51-54页 |
| 5.3 小结 | 第54-55页 |
| 总结 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第59-60页 |