| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 国内外发展现状 | 第8-10页 |
| 1.2 研究目的与意义 | 第10-11页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第二章 单通道电子倍增器的特性分析 | 第13-22页 |
| 2.1 单通道电子倍增器 | 第13-14页 |
| 2.2 单通道电子倍增器工作原理 | 第14-15页 |
| 2.3 单通道电子倍增器的工作参 | 第15-19页 |
| 2.3.1 CEM增益 | 第15-16页 |
| 2.3.2 CEM脉冲高度分布(PHD) | 第16-17页 |
| 2.3.3 CEM动态范围 | 第17-18页 |
| 2.3.4 CEM探测效率 | 第18-19页 |
| 2.3.5 暗噪声 | 第19页 |
| 2.4 单通道电子倍增器的工作模式 | 第19-22页 |
| 2.4.1 脉冲计数模式 | 第19-20页 |
| 2.4.2 脉冲计数工作点 | 第20-22页 |
| 第三章 前置放大器噪声分析及低噪声灵敏电荷前置放大电路设计 | 第22-39页 |
| 3.1 放大电路噪声 | 第22-29页 |
| 3.1.1 电阻热噪声 | 第22-23页 |
| 3.1.2 MOS管热噪声 | 第23-24页 |
| 3.1.3 闪烁噪声 | 第24页 |
| 3.1.4 放大器受外界电磁场干扰的影响 | 第24-25页 |
| 3.1.5 滤波后电路的噪声分析 | 第25-27页 |
| 3.1.6 电荷灵敏前置放大器的噪声分析 | 第27-29页 |
| 3.2 前置放大电路 | 第29-35页 |
| 3.2.1 前置放大器 | 第29-30页 |
| 3.2.2 前置放大器的设计 | 第30-33页 |
| 3.2.3 电荷灵敏前置放大器的噪声分析 | 第33-35页 |
| 3.3 前置放大器与主放大器的链接 | 第35-36页 |
| 3.4 放大与整形电路 | 第36页 |
| 3.5 脉冲幅度分析器 | 第36-39页 |
| 3.5.1 单道与多道脉冲幅度分析器 | 第36-37页 |
| 3.5.2 DV4096多道脉冲幅度分析器 | 第37-38页 |
| 3.5.3 连接系统方案 | 第38-39页 |
| 第四章 单通道电子倍增器的测试 | 第39-49页 |
| 4.1 CEM测试方案 | 第39-40页 |
| 4.1.1 极微弱电子源测试 | 第39页 |
| 4.1.2 CEM增益测试 | 第39-40页 |
| 4.1.3 暗电流测试 | 第40页 |
| 4.2 测试设备及待测CEM器件 | 第40-42页 |
| 4.2.1 测试设备 | 第40-41页 |
| 4.2.2 待测单通道电子倍增器 | 第41-42页 |
| 4.2.3 待测试指标 | 第42页 |
| 4.3 实验数据及分析 | 第42-48页 |
| 4.3.1 CEM测试说明 | 第42-43页 |
| 4.3.2 增益测试数据 | 第43-44页 |
| 4.3.3 暗电流测试结果 | 第44-45页 |
| 4.3.4 计数结果测试 | 第45-48页 |
| 4.4 测试波形分析 | 第48-49页 |
| 第五章 总结 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 学术成果 | 第54页 |