| 摘要 | 第4-8页 |
| abstract | 第8-12页 |
| 第1章 前言 | 第17-53页 |
| 1.1 引言 | 第17页 |
| 1.2 太阳能电池简介,发展历程和现状 | 第17-20页 |
| 1.3 聚合物太阳能电池的光电转换原理 | 第20-22页 |
| 1.4 聚合物太阳能电池的J-V特性及性能参数 | 第22-23页 |
| 1.5 太阳能电池的器件结构 | 第23-26页 |
| 1.6 聚合物太阳能电池材料介绍 | 第26-42页 |
| 1.6.1 聚合物给体材料 | 第26-30页 |
| 1.6.2 N型受体材料 | 第30-34页 |
| 1.6.3 界面材料 | 第34-42页 |
| 1.7 本论文的研究思路 | 第42-44页 |
| 1.8 参考文献 | 第44-53页 |
| 第2章 基于蒽醌并噻二唑具有不同极性末端的N型阴极界面材料的设计合成及应用 | 第53-77页 |
| 2.1 引言 | 第53-54页 |
| 2.2 合成及材料表征 | 第54-61页 |
| 2.2.1 合成所用材料和表征所用的仪器方法 | 第54-55页 |
| 2.2.2 两种N型两亲性有机电解质分子的合成路线 | 第55-58页 |
| 2.2.3 两种CIL材料的表征 | 第58-61页 |
| 2.3 聚合物太阳能器件的制备和性质测试 | 第61-72页 |
| 2.3.1 器件制备中所需的材料和器件制备方法 | 第61-62页 |
| 2.3.2 器件性能测试所用仪器和方法 | 第62-63页 |
| 2.3.3 器件性能测试 | 第63-67页 |
| 2.3.4 界面处界面偶极测试 | 第67-69页 |
| 2.3.5 器件电子迁移率测试 | 第69-70页 |
| 2.3.6 界面材料成膜性研究 | 第70-72页 |
| 2.3.7 CIL的普适性研究 | 第72页 |
| 2.4 本章小结 | 第72-74页 |
| 2.5 参考文献 | 第74-77页 |
| 第3章 以蒽并杂环骨架为共轭中心的N型大π共轭分子的合成及其在三元结构有机太阳能电池中的应用 | 第77-95页 |
| 3.1 引言 | 第77-78页 |
| 3.2 合成及材料表征 | 第78-85页 |
| 3.2.1 合成所用材料和表征 | 第78页 |
| 3.2.2 三种N型大π共轭分子的合成路线 | 第78-82页 |
| 3.2.3 三种化合物的表征 | 第82-85页 |
| 3.3 聚合物太阳能器件的制备和性质测试 | 第85-91页 |
| 3.3.1 器件制备中所需的材料和器件制备方法 | 第85-86页 |
| 3.3.2 器件性能测试所用仪器和方法 | 第86页 |
| 3.3.3 器件性能测试 | 第86-91页 |
| 3.4 本章小结 | 第91-93页 |
| 3.5 参考文献 | 第93-95页 |
| 第4章 基于苯并双环戊二烯噻吩具有可调节能级的N型阴极界面材料的设计合成及应用 | 第95-117页 |
| 4.1 引言 | 第95-96页 |
| 4.2 合成及材料表征 | 第96-102页 |
| 4.2.1 合成所用材料和表征所用的仪器方法 | 第96-97页 |
| 4.2.2 两种CIL的合成路线 | 第97-100页 |
| 4.2.3 两种CIL材料的表征 | 第100-102页 |
| 4.3 聚合物太阳能器件的制备和性质测试 | 第102-113页 |
| 4.3.1 器件制备中所需的材料和器件制备方法 | 第102-104页 |
| 4.3.2 器件性能测试所用仪器和方法 | 第104页 |
| 4.3.3 器件性能测试 | 第104-108页 |
| 4.3.4 器件内建电场的研究 | 第108-110页 |
| 4.3.5 电子迁移率测试 | 第110-112页 |
| 4.3.6 界面材料成膜性研究 | 第112页 |
| 4.3.7 TBIDTCN作为CIL的普适性研究 | 第112-113页 |
| 4.4 本章小结 | 第113-115页 |
| 4.5 参考文献 | 第115-117页 |
| 第5章 基于苝酰亚胺骨架具有不同柔性侧链数量的N型阴极界面材料的设计合成及应用 | 第117-141页 |
| 5.1 引言 | 第117-118页 |
| 5.2 合成及材料表征 | 第118-128页 |
| 5.2.1 合成所用材料和表征所用的仪器方法 | 第118-119页 |
| 5.2.2 三种CIL的合成路线 | 第119-125页 |
| 5.2.3 两种CIL材料的表征 | 第125-128页 |
| 5.3 聚合物太阳能器件的制备和性质测试 | 第128-137页 |
| 5.3.1 器件制备中所需的材料和器件制备方法 | 第128-129页 |
| 5.3.2 器件性能测试所用仪器和方法 | 第129页 |
| 5.3.3 器件性能测试 | 第129-134页 |
| 5.3.4 电子迁移率测试 | 第134-135页 |
| 5.3.5 器件对CIL的厚度敏感性研究 | 第135-137页 |
| 5.4 本章小结 | 第137-139页 |
| 5.5 参考文献 | 第139-141页 |
| 第6章 结论 | 第141-145页 |
| 作者简介及攻读学位期间取得的学术成果 | 第145-149页 |
| 致谢 | 第149-150页 |
