| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景 | 第9页 |
| 1.2 TDI图像传感器的工作原理 | 第9-10页 |
| 1.3 CMOS-TDI图像传感器的发展现状 | 第10-12页 |
| 1.4 本文结构 | 第12-14页 |
| 第二章 CMOS-TDI图像传感器的架构方案 | 第14-22页 |
| 2.1 CMOS-TDI图像传感器的相关参数与评价指标 | 第14-15页 |
| 2.2 CMOS-TDI图像传感器的曝光方式 | 第15-22页 |
| 2.2.1 全局曝光方式 | 第16-17页 |
| 2.2.2 行滚筒曝光方式 | 第17-18页 |
| 2.2.3 时间过采样行滚筒曝光方式 | 第18-19页 |
| 2.2.4 时间欠采样行滚筒曝光方式 | 第19页 |
| 2.2.5 列滚筒曝光方式 | 第19-20页 |
| 2.2.6 分组列滚筒曝光方式 | 第20-22页 |
| 第三章 CMOS-TDI型图像传感器的模拟域累加器 | 第22-40页 |
| 3.1 模拟域累加型CMOS-TDI图像传感器芯片架构 | 第22-24页 |
| 3.2 模拟累加器的电路结构 | 第24-28页 |
| 3.3 高级数模拟域累加器存在问题分析 | 第28-33页 |
| 3.4 去耦合电容对累加效果的提升 | 第33-36页 |
| 3.5 应用32级模拟域累加器的图像传感器测试结果 | 第36-40页 |
| 第四章 适用于高TDI级数的两步式模拟域累加器 | 第40-69页 |
| 4.1 时间欠采样行滚筒曝光逆序读出方式下两步式累加方案设计 | 第40-60页 |
| 4.1.1 两步式累加器电路结构 | 第44-49页 |
| 4.1.2 两步式累加效果及分步方案分析 | 第49-58页 |
| 4.1.3 加入去耦合电容的两步式累加器电路 | 第58-60页 |
| 4.2 两步式 8×8 分步方案64级累加器电路仿真结果 | 第60-64页 |
| 4.3 两步式 8×8 分步方案64级累加器电路测试结果 | 第64-69页 |
| 第五章 适于高速CMOS-TDI图像传感器的流水采样累加结构 | 第69-79页 |
| 5.1 现有模拟域累加器的速度瓶颈 | 第69-70页 |
| 5.2 流水采样模拟域累加器结构原理 | 第70-74页 |
| 5.3 流水采样模拟域累加器噪声分析 | 第74-75页 |
| 5.4 流水采样模拟域累加器功耗与面积分析 | 第75-76页 |
| 5.5 流水采样模拟域累加器仿真结果 | 第76-79页 |
| 第六章 总结 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
