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TDI CMOS成像测试系统设计及曝光时间分析

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第一章 绪论第8-14页
    1.1 课题研究背景第8-12页
        1.1.1 图像传感器介绍第8-9页
        1.1.2 TDI技术及TDI CMOS图像传感器第9-11页
        1.1.3 成像质量评价第11-12页
    1.2 课题研究意义第12页
    1.3 论文章节安排第12-14页
第二章 TDI CMOS图像传感器成像质量研究第14-20页
    2.1 TDI CMOS图像传感器成像质量评价方法第14页
    2.2 信噪比SNR理论及曝光时间分析第14-15页
    2.3 调制传输函数MTF理论及曝光时间分析第15-17页
    2.4 曝光时间的选取对成像质量的影响第17-20页
第三章 TDI CMOS图像传感器成像测试系统设计第20-45页
    3.1 成像测试系统总体设计第20-21页
    3.2 SOPC控制系统设计第21-22页
    3.3 处理器第22-23页
    3.4 总线第23-26页
    3.5 MPMC存储控制模块第26-28页
    3.6 TDI控制器模块第28-31页
    3.7 SysACE配置方案第31-34页
    3.8 显示模块第34-37页
    3.9 SOPC成像测试系统软件设计第37-40页
    3.10 Xilinx FPGA配置方案第40-45页
第四章 TDI CMOS成像测试系统硬件部分设计第45-53页
    4.1 TDI CMOS图像传感器相关参数第45-46页
    4.2 TDI CMOS图像传感器硬件电路第46-47页
    4.3 FPGA时钟分配方案第47-51页
    4.4 履带电机机械结构设计第51-53页
第五章 TDI CMOS成像测试系统验证及曝光时间分析第53-59页
    5.1 成像测试系统功能验证第53-55页
    5.2 TDI CMOS图像传感器曝光时间选取的验证第55-59页
第六章 总结和展望第59-60页
参考文献第60-63页
发表论文和参加科研情况说明第63-64页
致谢第64-65页

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