| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 CT技术的诞生和发展 | 第10-13页 |
| 1.1.1 CT技术的诞生 | 第10页 |
| 1.1.2 CT技术的发展 | 第10-13页 |
| 1.2 显微CT技术 | 第13-22页 |
| 1.2.1 显微CT技术简介 | 第13-15页 |
| 1.2.2 显微CT发展概况 | 第15-17页 |
| 1.2.3 计量型CT技术 | 第17-22页 |
| 1.3 本文研究目的和主要内容 | 第22-24页 |
| 第2章 显微CT系统测量误差分析 | 第24-38页 |
| 2.1 显微CT系统介绍 | 第24-28页 |
| 2.1.1 密度分辨力 | 第25页 |
| 2.1.2 空间分辨力 | 第25-27页 |
| 2.1.3 最大允许测量误差 | 第27-28页 |
| 2.2 影响CT系统测量的因素 | 第28-29页 |
| 2.3 理想显微CT系统的几何位姿关系 | 第29-30页 |
| 2.4 显微CT分析系统的建立 | 第30-31页 |
| 2.5 系统位姿及转台运动误差对测量影响的分析 | 第31-37页 |
| 2.5.1 初始条件设置 | 第32页 |
| 2.5.2 射线源焦斑位置对测量的影响 | 第32-34页 |
| 2.5.3 转台运动误差对测量的影响 | 第34-35页 |
| 2.5.4 探测器位姿对测量的影响 | 第35-36页 |
| 2.5.5 综合分析 | 第36-37页 |
| 2.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 转台误差的测量与补偿 | 第38-60页 |
| 3.1 转轴运动误差补偿系统的设计 | 第38-47页 |
| 3.1.1 转轴运动误差对系统成像的影响 | 第38-41页 |
| 3.1.2 误差补偿系统硬件设计 | 第41-44页 |
| 3.1.3 补偿系统数学模型 | 第44-47页 |
| 3.2 转台运动误差补偿 | 第47-51页 |
| 3.2.1 标定用标准器介绍 | 第47-49页 |
| 3.2.2 图像圆心提取 | 第49-50页 |
| 3.2.3 标定实现 | 第50-51页 |
| 3.3 转轴运动误差补偿系统的实验验证及评价 | 第51-59页 |
| 3.3.1 校准系统离线实验验证 | 第51-54页 |
| 3.3.2 补偿系统在线实验验证 | 第54-58页 |
| 3.3.3 补偿系统三维重建结果的MTF评价 | 第58-59页 |
| 3.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第4章 探测器位置参数的标定 | 第60-90页 |
| 4.1 平板探测器位置参数的标定 | 第60-71页 |
| 4.1.1 拟求参数 | 第60-61页 |
| 4.1.2 求解数学模型及模体设计 | 第61-71页 |
| 4.1.3 平板探测器位姿调整装置的设计 | 第71页 |
| 4.2 平板探测器位置参数标定的实验验证 | 第71-74页 |
| 4.2.1 仿真验证 | 第71-72页 |
| 4.2.2 实验验证 | 第72-74页 |
| 4.3 光耦探测器位置参数的标定 | 第74-86页 |
| 4.3.1 光耦探测器结构介绍几成像影响因素分析 | 第74-80页 |
| 4.3.2 标定数学模型的建立 | 第80-86页 |
| 4.4 光耦探测器位置参数标定的实验验证 | 第86-88页 |
| 4.5 本章小结 | 第88-90页 |
| 第5章 显微CT测量能力的评定 | 第90-124页 |
| 5.1 几何测量误差及校准方案 | 第90-94页 |
| 5.1.1 CT的几何量测量误差 | 第90-91页 |
| 5.1.2 校准方案 | 第91-92页 |
| 5.1.3 显微CT的测量不确定度来源 | 第92-94页 |
| 5.2 校准器的研制与校准 | 第94-105页 |
| 5.2.1 探测误差标准器 | 第94-96页 |
| 5.2.2 标准器校准 | 第96-97页 |
| 5.2.3 长度测量误差标准器 | 第97-101页 |
| 5.2.4 标准器的校准 | 第101-105页 |
| 5.3 显微CT系统探测误差的校准 | 第105-114页 |
| 5.3.1 基于平板探测器的显微CT系统探测误差的校准 | 第105-106页 |
| 5.3.2 不确定度评定 | 第106-109页 |
| 5.3.3 基于光耦探测器的显微CT系统探测误差的校准 | 第109-111页 |
| 5.3.4 不确定度评定 | 第111-114页 |
| 5.4 显微CT系统长度测量误差的校准 | 第114-123页 |
| 5.4.1 基于平板探测器的显微CT系统长度测量误差的校准 | 第114-116页 |
| 5.4.2 不确定度评定 | 第116-118页 |
| 5.4.3 基于光耦探测器的显微CT系统长度测量误差的校准 | 第118-120页 |
| 5.4.4 不确定度评定 | 第120-123页 |
| 5.5 本章小结 | 第123-124页 |
| 第6章 总结与展望 | 第124-128页 |
| 6.1 论文完成的主要工作 | 第124-125页 |
| 6.2 论文创新点 | 第125-126页 |
| 6.3 工作展望 | 第126-128页 |
| 参考文献 | 第128-136页 |
| 附录A | 第136-142页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第142-144页 |
| 致谢 | 第144-146页 |
