中文摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-18页 |
1.1 研究的背景与意义 | 第11-12页 |
1.2 实时绘制中走样现象的基础理论 | 第12-16页 |
1.2.1 信号的采样与重建 | 第12-15页 |
1.2.2 计算机图形学中的走样 | 第15-16页 |
1.3 本文工作和章节安排 | 第16-18页 |
第2章 屏幕反走样算法与相关技术 | 第18-47页 |
2.1 引言 | 第18页 |
2.2 基于硬件的反走样算法 | 第18-21页 |
2.2.1 超级采样反走样算法 | 第18-19页 |
2.2.2 多重采样反走样算法 | 第19-20页 |
2.2.3 覆盖采样反走样算法/增强质量反走样算法 | 第20-21页 |
2.3 延迟着色技术介绍 | 第21-25页 |
2.3.1 相关概念:G-buffer和MRT | 第23-24页 |
2.3.2 延迟着色的绘制过程 | 第24-25页 |
2.4 后处理反走样算法 | 第25-44页 |
2.4.1 基于图像分析的后处理反走样算法 | 第26-37页 |
2.4.1.1 边缘检测反走样算法 | 第26-28页 |
2.4.1.2 方向性局部反走样算法 | 第28页 |
2.4.1.3 快速逼近反走样算法 | 第28-29页 |
2.4.1.4 重采样反走样算法 | 第29-30页 |
2.4.1.5 形态学反走样算法 | 第30-37页 |
2.4.2 基于几何辅助的后处理反走样算法 | 第37-44页 |
2.4.2.1 边缘距离反走样算法 | 第37-38页 |
2.4.2.2 几何缓存反走样算法 | 第38-39页 |
2.4.2.3 子像素重建反走样算法 | 第39-42页 |
2.4.2.4 基于三角形几何重建的子像素反走样算法 | 第42-44页 |
2.5 可编程图形流水线技术介绍 | 第44-46页 |
2.5.1 顶点着色器和像素着色器 | 第46页 |
2.6 本章小结 | 第46-47页 |
第3章 基于延迟着色的后处理统一反走样算法研究 | 第47-63页 |
3.1 引言 | 第47页 |
3.2 算法概述 | 第47-49页 |
3.3 G-buffer的存储 | 第49-50页 |
3.4 像素分类 | 第50-51页 |
3.5 几何边界像素的反走样重建 | 第51-56页 |
3.5.1 距离度量 | 第52-53页 |
3.5.2 联合双边滤波 | 第53-56页 |
3.6 非几何边界像素的反走样重建 | 第56-61页 |
3.6.1 判断像素间的不连续性 | 第56-57页 |
3.6.2 计算面积(混合权重) | 第57-61页 |
3.6.3 混合颜色 | 第61页 |
3.7 本章小结 | 第61-63页 |
第4章 实验结果分析 | 第63-79页 |
4.1 实验环境 | 第63页 |
4.2 实验分析 | 第63-78页 |
4.2.1 是否开启走样的对比 | 第63-65页 |
4.2.2 与SRAA/SMAA的对比 | 第65-72页 |
4.2.3 与杜的算法的对比 | 第72-76页 |
4.2.4 具体对比数据 | 第76-78页 |
4.3 本章小结 | 第78-79页 |
第5章 工作总结与展望 | 第79-81页 |
5.1 本文工作总结 | 第79-80页 |
5.2 未来工作展望 | 第80-81页 |
参考文献 | 第81-85页 |
攻读硕士学位期间主要研究成果 | 第85-86页 |
致谢 | 第86-87页 |