| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 固态电解质概述 | 第10-16页 |
| 1.2.1 固态电解质的基本特点 | 第10-11页 |
| 1.2.2 固态电解质的类别 | 第11-16页 |
| 1.2.2.1 萤石型结构电解质 | 第12-14页 |
| 1.2.2.2 钙钛矿结构电解质 | 第14-16页 |
| 1.3 CeO_2基固态电解质的研究现状 | 第16-20页 |
| 1.3.1 CeO_2基固态电解质的导电机制 | 第16-17页 |
| 1.3.2 CeO_2基固态电解质的界面特性及空间电势调控 | 第17页 |
| 1.3.3 CeO_2基固态电解质电导率提高的主要途径 | 第17-20页 |
| 1.4 晶界包覆掺杂法简介 | 第20-21页 |
| 1.5 交流阻抗谱法简介 | 第21-23页 |
| 1.6 本文的选题依据、研究内容及创新点 | 第23-24页 |
| 1.6.1 选题依据 | 第23页 |
| 1.6.2 研究内容 | 第23页 |
| 1.6.3 创新点 | 第23-24页 |
| 第二章 材料制备及实验方法 | 第24-34页 |
| 2.1 实验药品及主要设备 | 第24页 |
| 2.1.1 实验药品 | 第24页 |
| 2.1.2 主要设备 | 第24页 |
| 2.2 样品制备的工艺流程 | 第24-28页 |
| 2.2.1 Fe掺杂的GDC样品的制备流程 | 第24-27页 |
| 2.2.2 Co掺杂的GDC样品的制备流程 | 第27-28页 |
| 2.3 试样电导性能的测试 | 第28-30页 |
| 2.3.1 试样表面电极的制备 | 第28页 |
| 2.3.2 直流电阻测试 | 第28页 |
| 2.3.3 交流阻抗测试 | 第28-29页 |
| 2.3.4 阻塞电阻测试 | 第29-30页 |
| 2.4 试样密度测试及显微结构分析 | 第30-34页 |
| 2.4.1 密度测试 | 第30页 |
| 2.4.2 X射线衍射分析 | 第30-31页 |
| 2.4.3 扫描电镜分析 | 第31页 |
| 2.4.4 透射电镜分析 | 第31-34页 |
| 第三章 Fe元素晶界包覆对CeO_2基电解质电导性能的影响 | 第34-46页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 Fe掺杂的GDC样品的密度 | 第35-36页 |
| 3.3 Fe掺杂的GDC样品的物相及显微结构 | 第36-40页 |
| 3.3.1 Fe掺杂的GDC粉末样品的物相及显微结构 | 第36-38页 |
| 3.3.2 压片烧结后陶瓷样品的物相及显微结构 | 第38-40页 |
| 3.4 Fe掺杂的GDC样品的电导行为 | 第40-44页 |
| 3.5 小结 | 第44-46页 |
| 第四章 Co元素晶界包覆对CeO_2基电解质电导性能的影响 | 第46-60页 |
| 4.1 引言 | 第46-47页 |
| 4.2 Co掺杂的GDC样品的密度 | 第47-48页 |
| 4.3 Co掺杂的GDC样品的物相及显微结构 | 第48-55页 |
| 4.3.1 Co掺杂的GDC粉末样品的物相 | 第48-50页 |
| 4.3.2 压片烧结后陶瓷样品的物相、显微结构及元素扩散 | 第50-55页 |
| 4.3.2.1 物相分析 | 第50-52页 |
| 4.3.2.2 SEM形貌观察 | 第52页 |
| 4.3.2.3 TEM形貌及元素扩散分析 | 第52-55页 |
| 4.4 Co掺杂的GDC样品的电导行为 | 第55-59页 |
| 4.5 小结 | 第59-60页 |
| 第五章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 结论 | 第60-61页 |
| 5.2 展望 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 附录 | 第70页 |
