| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 射频识别技术与电子标签 | 第14-15页 |
| 1.2 射频识别与温度感知一体化标签芯片的研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3 面临的难点与挑战 | 第17-18页 |
| 1.4 论文研究的内容与贡献 | 第18页 |
| 1.5 论文的组织结构 | 第18-20页 |
| 第二章 一体化芯片系统设计 | 第20-31页 |
| 2.1 IS0 18000-6C 协议简析 | 第20-21页 |
| 2.2 电子标签与阅读器的通信 | 第21-23页 |
| 2.3 一体化芯片系统架构 | 第23-25页 |
| 2.4 主要技术指标和设计难点分析 | 第25-30页 |
| 2.4.1 系统指标 | 第25-26页 |
| 2.4.2 射频前端 | 第26-27页 |
| 2.4.3 模拟前端 | 第27-29页 |
| 2.4.4 数字基带电路 | 第29-30页 |
| 2.4.5 温度传感器电路 | 第30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 RFID标签芯片改进设计 | 第31-57页 |
| 3.1 双差分射频前端设计 | 第31-34页 |
| 3.2 高效率整流电路设计 | 第34-42页 |
| 3.2.1 整流效率分析 | 第34-36页 |
| 3.2.2 传统的整流电路 | 第36-38页 |
| 3.2.3 差分整流电路设计 | 第38-40页 |
| 3.2.4 整流效率仿真结果 | 第40-41页 |
| 3.2.5 版图设计 | 第41-42页 |
| 3.3 PVT补偿的时钟电路设计 | 第42-53页 |
| 3.3.1 PVT对模拟集成电路的影响 | 第42-44页 |
| 3.3.2 松弛振荡器基本原理 | 第44-46页 |
| 3.3.3 电容模型分析 | 第46-47页 |
| 3.3.4 基准电压/电流产生电路 | 第47-49页 |
| 3.3.5 时钟频率的PVT稳定性 | 第49-50页 |
| 3.3.6 时钟电路仿真结果 | 第50-52页 |
| 3.3.7 版图设计 | 第52-53页 |
| 3.4 标签芯片中其他模块电路 | 第53-56页 |
| 3.4.1 稳压电路 | 第53-54页 |
| 3.4.2 解调电路 | 第54-55页 |
| 3.4.3 数字基带电路 | 第55-56页 |
| 3.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 温度传感器设计 | 第57-74页 |
| 4.1 温度传感器与标签芯片接口 | 第57-58页 |
| 4.2 温度信息采集流程 | 第58-60页 |
| 4.2.1 一体化标签与读写器交互流程 | 第58-59页 |
| 4.2.2 温度传感器工作流程 | 第59-60页 |
| 4.3 电路设计 | 第60-66页 |
| 4.3.1 温度信息采集前端电路 | 第61-63页 |
| 4.3.2 比较器 | 第63-64页 |
| 4.3.3 逐次逼近寄存器（SAR） | 第64页 |
| 4.3.4 数模转化器（DAC） | 第64-66页 |
| 4.4 电路仿真结果 | 第66-72页 |
| 4.4.1 温度信息采集前端电路 | 第66-67页 |
| 4.4.2 比较器电路仿真 | 第67-69页 |
| 4.4.3 逐次逼近寄存器仿真 | 第69-70页 |
| 4.4.4 温度传感器系统仿真 | 第70-72页 |
| 4.5 版图设计 | 第72-73页 |
| 4.6 本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 芯片版图与测试方案 | 第74-80页 |
| 5.1 芯片版图 | 第74-75页 |
| 5.2 测试方案 | 第75-79页 |
| 5.2.1 芯片测试方法 | 第75-76页 |
| 5.2.2 测试仪器 | 第76页 |
| 5.2.3 协议一致性测试 | 第76-77页 |
| 5.2.4 芯片灵敏度测试 | 第77-78页 |
| 5.2.5 温度感知功能/性能测试 | 第78-79页 |
| 5.3 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第86-87页 |