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CHF3/Ar介质阻挡放电等离子体中CF2基团数密度的光谱诊断研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
目录第6-8页
引言第8-9页
1 绪论第9-20页
    1.1 介质阻挡放电第9-15页
        1.1.1 介质阻挡放电的电极结构第9-10页
        1.1.2 介质阻挡放电的物理过程第10-12页
        1.1.3 介质阻挡放电的主要参量第12-15页
    1.2 光谱法诊断等离子体第15-19页
        1.2.1 发射光谱法第16-17页
        1.2.2 激光诱导荧光光谱法第17-18页
        1.2.3 吸收光谱法第18-19页
    1.3 本论文的选题和研究思路第19-20页
2 实验装置和实验流程第20-24页
    2.1 介质阻挡放电等离子体的光谱诊断装置第20-22页
        2.1.1 配气和抽气系统第20-21页
        2.1.2 腔室结构第21页
        2.1.3 电压-电荷(李萨如图形)测量装置第21-22页
        2.1.4 光谱测量系统第22页
    2.2 实验流程第22-24页
        2.2.1 吸收光谱法测量CF_2基团粒子数密度第22-23页
        2.2.2 发射光谱内标法测量CF_2基团粒子数密度第23-24页
3 吸收光谱法测量CF_2基团粒子数密度第24-34页
    3.1 CF_2基团粒子数密度的诊断方法第24-29页
        3.1.1 吸收光谱谱带的选择第24-27页
        3.1.2 CF_2基团粒子数密度计算方法第27-29页
    3.2 结果与讨论第29-32页
        3.2.1 气压对CF_2基团粒子数密度的影响第29-30页
        3.2.2 放电功率对CF_2基团粒子数密度的影响第30-31页
        3.2.3 CHF_3浓度对CF_2基团粒子数密度的影响第31-32页
        3.2.4 电极间距对CF_2基团粒子数密度的影响第32页
    3.3 本章小结第32-34页
4 发射光谱内标法测量CF_2基团粒子数密度第34-49页
    4.1 发射光谱内标法测量CF_2基团粒子数密度的方法第34-37页
    4.2 发射光谱内标法测量CF_2基团粒子数密度第37-41页
        4.2.1 内标法测得气压对CF_2粒子数密度的影响第37-38页
        4.2.2 内标法测得放电功率对CF_2粒子数密度的影响第38-39页
        4.2.3 内标法测得CHF_3浓度对CF_2粒子数密度的影响第39-40页
        4.2.4 内标法测得电极间距对CF_2粒子数密度的影响第40-41页
    4.3 发射光谱内标法和吸收光谱法测量结果比较第41-48页
        4.3.1 内标法和吸收光谱法测得气压对CF_2粒子数密度的影响第41-43页
        4.3.2 内标法和吸收光谱法测得放电功率对CF_2粒子数密度的影响第43-45页
        4.3.3 内标法和吸收光谱法测得CHF_3浓度对CF_2粒子数密度的影响第45-47页
        4.3.4 内标法和吸收光谱法测得电极间距对CF_2粒子数密度的影响第47-48页
    4.4 本章小结第48-49页
结论第49-50页
参考文献第50-55页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第55-56页
致谢第56-57页

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