| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 CMOS像感器发展现状和空间应用状况 | 第10-14页 |
| 1.2.1 CMOS像感器的发展现状 | 第10-13页 |
| 1.2.2 CMOS像感器的空间应用状况 | 第13-14页 |
| 1.3 国内外研究进展 | 第14-16页 |
| 1.3.1 国外研究进展 | 第14-15页 |
| 1.3.2 国内研究进展 | 第15-16页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 CMOS像感器理论 | 第18-29页 |
| 2.1 CMOS像感器的核心器件 | 第18-21页 |
| 2.1.1 光电二极管工作原理 | 第18-20页 |
| 2.1.2 MOSFET工作原理 | 第20-21页 |
| 2.2 CMOS像感器工作原理及性能指标 | 第21-24页 |
| 2.2.1 CMOS像感器的结构 | 第21-23页 |
| 2.2.2 CMOS像感器的工作原理 | 第23-24页 |
| 2.2.3 CMOS像感器的特性参数 | 第24页 |
| 2.3 CMOS像感器与CCD像感器比较 | 第24-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 温度噪声机理 | 第29-46页 |
| 3.1 空间温度环境 | 第29-31页 |
| 3.1.1 宇宙的冷黑环境 | 第29页 |
| 3.1.2 空间外热流 | 第29-31页 |
| 3.2 温度对PN结的影响 | 第31-34页 |
| 3.3 温度对光电二极管暗电流的影响 | 第34-35页 |
| 3.4 温度对MOSFET的影响 | 第35-39页 |
| 3.4.1 温度对MOSFET阈值电压的影响 | 第35-36页 |
| 3.4.2 温度对MOSFET迁移率的影响 | 第36-37页 |
| 3.4.3 温度对MOSFET漏电流的影响 | 第37-38页 |
| 3.4.4 温度对MOSFET亚阈值电流的影响 | 第38页 |
| 3.4.5 温度对MOSFET跨导的影响 | 第38页 |
| 3.4.6 MOSFET的低温工作特性 | 第38-39页 |
| 3.5 温度对CMOS像感器的影响 | 第39-40页 |
| 3.5.1 温度对CMOS像感器暗电流的影响 | 第39页 |
| 3.5.2 温度对CMOS像感器输出非均匀性的影响 | 第39-40页 |
| 3.5.3 温度对CMOS像感器转换增益及光强响应的影响 | 第40页 |
| 3.6 半导体能带理论 | 第40-43页 |
| 3.7 CMOS像感器可靠性与温度的关系 | 第43-45页 |
| 3.8 本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 CMOS像感器温度噪声实验研究 | 第46-70页 |
| 4.1 实验方案 | 第46-49页 |
| 4.1.1 CMOS像感器自热效应实验方案 | 第46-48页 |
| 4.1.2 CMOS像感器变温实验方案 | 第48-49页 |
| 4.2 实验结果 | 第49-66页 |
| 4.2.1 CMOS像感器本底测试 | 第49-50页 |
| 4.2.2 CMOS像感器自热实验结果及分析 | 第50-55页 |
| 4.2.3 CMOS像感器变温实验结果及分析 | 第55-66页 |
| 4.3 CMOS像感器温度噪声对目标定位精度影响的仿真分析 | 第66-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-70页 |
| 结论 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
