同步辐射丝扫描光束位置探测系统研制
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| 1.1 同步辐射光源 | 第13-14页 |
| 1.2 同步辐射光束位置探测器 | 第14-16页 |
| 1.3 丝扫描探测器研究现状 | 第16-18页 |
| 1.4 本文的研究任务和章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 上海光源光束位置探测系统 | 第20-31页 |
| 2.1 上海同步辐射装置 | 第20-21页 |
| 2.2 上海光源光束位置探测系统 | 第21-22页 |
| 2.3 上海光源光束位置探测器 | 第22-29页 |
| 2.3.1 刀片式光束位置探测器 | 第22-24页 |
| 2.3.2 四象限光束位置探测器 | 第24-26页 |
| 2.3.3 荧光靶光束位置探测器 | 第26-28页 |
| 2.3.4 丝扫描光束位置探测器 | 第28-29页 |
| 2.4 章末小结 | 第29-31页 |
| 第三章 丝扫描光束位置探测系统的研制 | 第31-52页 |
| 3.1 丝扫描探测器的物理设计 | 第31-35页 |
| 3.1.1 十字交叉型丝扫描探测器的结构介绍 | 第31-33页 |
| 3.1.2 扫描丝的选择与相关参数计算 | 第33-35页 |
| 3.1.3 探测器的标定与准直 | 第35页 |
| 3.2 丝扫描电子学系统设计 | 第35-43页 |
| 3.2.1 硬件结构设计 | 第36-40页 |
| 3.2.2 软件系统设计 | 第40-43页 |
| 3.3 丝扫描信号处理方法设计 | 第43-51页 |
| 3.3.1 信号降噪处理 | 第44-47页 |
| 3.3.2 光信号自动拾取 | 第47-49页 |
| 3.3.3 拟合参数初值估测与高斯拟合 | 第49-51页 |
| 3.4 章末小结 | 第51-52页 |
| 第四章 丝扫描探测系统的性能测试与结果分析 | 第52-69页 |
| 4.1 实验环境介绍 | 第52-54页 |
| 4.2 信号处理效果测试 | 第54-62页 |
| 4.2.1 信号降噪处理 | 第54-56页 |
| 4.2.2 光信号自动拾取 | 第56-60页 |
| 4.2.3 拟合参数初值估测与高斯拟合 | 第60-62页 |
| 4.3 系统分辨率测试 | 第62-65页 |
| 4.3.1 信号处理方法对分辨率的影响 | 第62-63页 |
| 4.3.2 系统稳定性与最佳分辨率 | 第63-64页 |
| 4.3.3 分步采样与连续采样性能比较 | 第64-65页 |
| 4.4 影响系统分辨率的因素测试 | 第65-67页 |
| 4.4.1 分辨率与采样频率的关系 | 第65-66页 |
| 4.4.2 分辨率与扫描速度的关系 | 第66-67页 |
| 4.4.3 分辨率与扫描丝直径的关系 | 第67页 |
| 4.5 章末小结 | 第67-69页 |
| 第五章 总结与展望 | 第69-72页 |
| 参考文献 | 第72-77页 |
| 攻读硕士学位期间的学术成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
