基于Nand Flash的大容量存储装置的设计与研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
·课题研究的目的及意义 | 第9-10页 |
·国内外研究现状 | 第10-15页 |
·硬盘存储技术的发展现状 | 第10-11页 |
·固态存储技术的发展现状 | 第11-14页 |
·高速存储装置的国内外现状 | 第14-15页 |
·本文的内容及结构安排 | 第15-17页 |
2 系统设计和方案设计 | 第17-22页 |
·系统组成部分 | 第17页 |
·技术指标 | 第17-18页 |
·总体方案设计 | 第18-21页 |
·设计原则 | 第18页 |
·器件选择 | 第18-20页 |
·系统原理框图 | 第20-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
3 硬件电路的设计与系统工作原理 | 第22-32页 |
·高速 PCB 效应 | 第22-24页 |
·电源部分 | 第24-25页 |
·LVDS 接收部分 | 第25-27页 |
·隔离电路 | 第27页 |
·FPGA 外围电路 | 第27-29页 |
·存储阵列模块 | 第29-31页 |
·存储容量的扩展 | 第29页 |
·存储速度的提高 | 第29-30页 |
·存储阵列模型的构建 | 第30-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
4 Flash 高速传输与可靠性研究 | 第32-52页 |
·DMA 传输 | 第32-35页 |
·FIFO 数据缓存容量以及系统存储速度计算 | 第34-35页 |
·BCH 码纠错 | 第35-41页 |
·均衡损耗 | 第41-46页 |
·动态均衡损耗 | 第44-45页 |
·静态均衡损耗算法 | 第45-46页 |
·坏块管理 | 第46-51页 |
·坏块识别 | 第47-48页 |
·坏块替换 | 第48-49页 |
·并行存储坏块编码设计 | 第49-50页 |
·坏块策略优化设计 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
5 系统功能测试与可靠性分析 | 第52-58页 |
·测试系统概述 | 第52页 |
·系统功能测试 | 第52-57页 |
·坏块管理测试 | 第52-54页 |
·数据测试分析 | 第54-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
6 总结与展望 | 第58-60页 |
·论文工作总结 | 第58页 |
·展望 | 第58-60页 |
参考文献 | 第60-63页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第63-64页 |
致谢 | 第64-65页 |