I/F放大变换电路测试系统研制
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
1 绪论 | 第10-16页 |
·测试系统理论与发展现状 | 第10-12页 |
·测试技术概述 | 第10页 |
·测试系统组成结构 | 第10-11页 |
·测试技术的发展 | 第11-12页 |
·课题研究背景及意义 | 第12-13页 |
·课题研究的主要内容 | 第13-14页 |
·论文章节安排 | 第14-15页 |
·本章小结 | 第15-16页 |
2 测试系统研究的理论基础 | 第16-24页 |
·虚拟仪器简介 | 第16-19页 |
·虚拟仪器发展 | 第17页 |
·虚拟仪器编程特点 | 第17页 |
·虚拟仪器分类 | 第17-19页 |
·可编程逻辑器件 | 第19-22页 |
·可编程逻辑器件简介 | 第19页 |
·可编程逻辑器件发展历史 | 第19-21页 |
·可编程逻辑器件设计流程 | 第21-22页 |
·LabVIEW编程语言 | 第22-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
3 测试系统总体设计 | 第24-30页 |
·被测电路简介 | 第24页 |
·测试系统技术要求 | 第24-25页 |
·测试系统功能要求 | 第24-25页 |
·测试系统技术指标 | 第25页 |
·测试系统组成 | 第25-26页 |
·测试仪内部电路总体设计 | 第26-29页 |
·电源供电及监控电路 | 第26-28页 |
·时间基准脉冲信号产生电路 | 第28页 |
·电路板输出信号 | 第28页 |
·系统切换控制电路 | 第28-29页 |
·本章小结 | 第29-30页 |
4 系统硬件电路设计 | 第30-46页 |
·硬件电路方案设计 | 第30-31页 |
·系统硬件选型 | 第31-33页 |
·工业控制计算机的配置 | 第31页 |
·多功能板卡和计数器板卡 | 第31-33页 |
·高精度可控恒流源 | 第33页 |
·硬件模块电路设计 | 第33-42页 |
·系统供电设计 | 第33-34页 |
·电源监测保护电路 | 第34-36页 |
·时间基准脉冲信号电路 | 第36-38页 |
·按键切换控制电路 | 第38-39页 |
·频率采集电路设计 | 第39-40页 |
·仪器面板按键控制电路 | 第40-42页 |
·硬件电路板设计 | 第42-44页 |
·系统电路原理图PCB设计 | 第42-43页 |
·芯片封装的选择 | 第43页 |
·硬件电路板布局与布线 | 第43-44页 |
·硬件制作与调试的基本原则和问题 | 第44-45页 |
·本章小结 | 第45-46页 |
5 系统软件设计 | 第46-54页 |
·软件设计 | 第46页 |
·静态测试原理 | 第46-48页 |
·放大变换电路测试系统性能分析 | 第48-52页 |
·测试系统主程序流程图 | 第48-49页 |
·电源监控模块流程图 | 第49页 |
·系统自检模块流程图 | 第49-50页 |
·测试模式分类 | 第50-52页 |
·放大变换电路板输出频率测试方法研究 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
6 测试平台设计与实现 | 第54-70页 |
·系统测试平台简介 | 第54页 |
·数据采集系统简介 | 第54-56页 |
·数据采集系统驱动 | 第56-57页 |
·系统对恒流源的控制设计 | 第57-59页 |
·放大变换电路系统测试过程 | 第59-66页 |
·测试系统登录界面 | 第59-60页 |
·硬件加载程序设计 | 第60页 |
·七路电源的监控测量程序 | 第60-62页 |
·测试界面布局 | 第62-66页 |
·数据库查询 | 第66-67页 |
·报表生成 | 第67-68页 |
·测试结果分析 | 第68-69页 |
·本章小结 | 第69-70页 |
7 结论 | 第70-72页 |
·结论 | 第70页 |
·总结与展望 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-75页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-78页 |