电子设备电磁仿真中加强筋的简化方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·研究背景和意义 | 第7-9页 |
| ·研究现状 | 第9-13页 |
| ·本文的主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 电子设备电磁场仿真建模的简化分析与讨论 | 第15-23页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·电子设备电磁兼容特点 | 第15-17页 |
| ·结构特点 | 第15-16页 |
| ·电路特点 | 第16-17页 |
| ·电子设备电磁场仿真建模主要因素 | 第17-21页 |
| ·缝隙结构对仿真建模的影响 | 第18-19页 |
| ·通风孔洞对电磁屏效的影响 | 第19-20页 |
| ·微小结构对电磁仿真建模的影响 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 基于微扰理论的电子设备仿真模型简化研究 | 第23-51页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·基于微扰理论的微小结构仿真模型处理 | 第23-29页 |
| ·矩形谐振腔 | 第24-26页 |
| ·谐振腔微扰理论 | 第26-29页 |
| ·一种含加强筋的电子机箱模型简化研究 | 第29-35页 |
| ·某机箱加强筋的电磁场仿真模型简化准则 | 第29-30页 |
| ·含加强筋机箱实例仿真验证一 | 第30-33页 |
| ·机箱加强筋尺寸增大后仿真验证二 | 第33-34页 |
| ·仿真结果分析与讨论 | 第34-35页 |
| ·不同极化方向对机箱电性能的影响 | 第35-45页 |
| ·不同极化方向对机箱屏效和谐振频率的影响 | 第36-39页 |
| ·不同极化方向对简化机箱加强筋的影响 | 第39-44页 |
| ·仿真结果分析与讨论 | 第44-45页 |
| ·机箱内部电磁场分析 | 第45-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 高密度机箱电磁屏效测试实验 | 第51-65页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·高密度机箱机电热三场耦合实验装置 | 第51-55页 |
| ·高密度机箱三场耦合实验装置 | 第51-54页 |
| ·实验设计目标 | 第54-55页 |
| ·高密度机箱的屏蔽效能测试方法 | 第55页 |
| ·高密度机箱的屏蔽效能测试 | 第55-61页 |
| ·实验对象和实验条件以及环境 | 第55-57页 |
| ·测试方法和过程 | 第57-59页 |
| ·测试结果 | 第59-61页 |
| ·仿真结果与测设结果分析比较 | 第61-64页 |
| ·测试误差分析 | 第61-64页 |
| ·分析比较结论 | 第64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·本文工作总结 | 第65页 |
| ·今后工作展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
