集成电路芯片测试项目质量管理研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 前言 | 第10-16页 |
·研究的背景和意义 | 第10-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-14页 |
·项目质量管理发展历史 | 第11-13页 |
·国外项目质量管理发展 | 第13页 |
·国内项目质量管理发展 | 第13-14页 |
·研究的目的与内容 | 第14-16页 |
第2章 项目质量管理的基本理论 | 第16-29页 |
·项目质量及项目质量管理的概念 | 第16-18页 |
·质量定义 | 第16页 |
·项目质量的定义 | 第16页 |
·项目质量的特点 | 第16-17页 |
·质量管理的定义 | 第17页 |
·项目质量管理 | 第17页 |
·项目质量管理的特点 | 第17-18页 |
·项目质量管理的原则 | 第18页 |
·项目质量管理的过程 | 第18-20页 |
·戴明循环模型 | 第18-19页 |
·戴明循环特点 | 第19页 |
·质量管理体系 | 第19-20页 |
·项目质量管理体系 | 第20-23页 |
·项目质量规划 | 第20-21页 |
·项目质量保证 | 第21-22页 |
·项目质量控制 | 第22-23页 |
·集成电路行业项目质量管理体系 | 第23-29页 |
·集成电路行业项目质量管理的特点 | 第23-24页 |
·集成电路行业项目质量管理的原则和特点 | 第24-25页 |
·集成电路行业项目质量体系 | 第25-29页 |
第3章 集成电路芯片测试项目质量管理体系 | 第29-34页 |
·集成电路芯片测试项目质量管理现状及特点 | 第29页 |
·测试项目质量管理现状 | 第29页 |
·测试项目质量管理特点 | 第29页 |
·集成电路芯片测试项目质量管理体系的原则和意义 | 第29-31页 |
·测试项目质量管理体系的原则 | 第29-30页 |
·测试项目质量管理体系的意义 | 第30-31页 |
·集成电路芯片测试项目质量管理体系 | 第31-34页 |
·测试项目项目质量规划现状及问题 | 第32-33页 |
·测试项目项目质量保证现状及问题 | 第33页 |
·测试项目项目质量控制现状及问题 | 第33-34页 |
第4章 HG公司测试项目质量管理的改进 | 第34-48页 |
·HG公司测试项目质量管理概况及特点 | 第34-36页 |
·HG公司概况 | 第34页 |
·HG公司测试部门组织架构 | 第34-35页 |
·HG公司测试项目质量管理现状及问题 | 第35-36页 |
·HG公司测试项目质量管理的规划与保证的改进 | 第36-37页 |
·HG公司测试项目质量管理规划 | 第36-37页 |
·HG公司测试项目质量管理保证 | 第37页 |
·HG公司测试项目质量管理的分析与评价的改进 | 第37-38页 |
·HG公司测试项目质量管理分级分析与评价 | 第37-38页 |
·HG公司测试项目质量管理控制的改进 | 第38-45页 |
·测试项目质量措施计划表 | 第38-39页 |
·测试项目质量直方图 | 第39-41页 |
·测试项目质量排列图 | 第41-43页 |
·测试项目质量控制图 | 第43-44页 |
·测试项目质量频数分布表 | 第44-45页 |
·HG公司测试项目质量管理改进措施选择 | 第45-48页 |
·HG公司测试项目质量管理改进实施 | 第45-47页 |
·HG公司测试项目质量管理审核要求 | 第47页 |
·HG公司测试项目质量管理记录管理 | 第47-48页 |
第5章 总结与展望 | 第48-49页 |
·论文的主要研究工作 | 第48页 |
·研究展望 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-51页 |
致谢 | 第51-52页 |
卷内备考表 | 第52页 |