基于MCS51的模型机测试系统
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| §1-1 课题来源及研究目的 | 第10页 |
| §1-2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1-2-1 模型机的国内外发展现状 | 第10-11页 |
| 1-2-2 测试系统的国内外发展现状 | 第11页 |
| §1-3 论文的研究工作 | 第11-12页 |
| §1-4 本文的组织结构 | 第12-13页 |
| 第二章 模型机的工作原理 | 第13-18页 |
| §2-1 模型机的模块划分 | 第13-14页 |
| §2-2 模型机的逻辑布局 | 第14-15页 |
| §2-3 模型机的数据通路 | 第15页 |
| §2-4 模型机的指令系统 | 第15-17页 |
| §2-5 本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 模型机测试系统的总体设计 | 第18-25页 |
| §3-1 模型机测试系统的设计原则 | 第18-19页 |
| 3-1-1 相关概念及基本原理 | 第18页 |
| 3-1-2 测试系统的设计原则 | 第18-19页 |
| §3-2 测试系统的总体设计方案 | 第19-23页 |
| 3-2-1 本系统的设计思想 | 第19-20页 |
| 3-2-2 测试系统的硬件体系结构 | 第20-21页 |
| 3-2-3 主芯片的引脚分配策略 | 第21-23页 |
| §3-3 系统的硬件设计工具和软件开发平台 | 第23-24页 |
| 3-3-1 硬件电路设计工具 | 第23-24页 |
| 3-3-2 软件开发工具 | 第24页 |
| §3-4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第四章 存储器模块的测试 | 第25-34页 |
| §4-1 模型机的存储器功能分析 | 第25-26页 |
| 4-1-1 数据输入电路 | 第25页 |
| 4-1-2 地址输入电路 | 第25-26页 |
| §4-2 存储器模块的测试设计与实现 | 第26-33页 |
| 4-2-1 存储器的被测功能芯片 | 第26-27页 |
| 4-2-2 测试所需的硬件连线布局 | 第27页 |
| 4-2-3 存储器测试流程的分析与设计 | 第27-29页 |
| 4-2-4 测试存储器的详细步骤 | 第29-33页 |
| §4-3 本章小结 | 第33-34页 |
| 第五章 运算器模块的测试 | 第34-39页 |
| §5-1 模型机的运算器功能分析 | 第34-35页 |
| §5-2 运算器模块的测试设计与实现 | 第35-38页 |
| 5-2-1 运算器的被测功能芯片 | 第35页 |
| 5-2-2 测试所需的硬件连线布局 | 第35页 |
| 5-2-3 运算器测试流程的分析与设计 | 第35-37页 |
| 5-2-4 测试运算器测试的详细步骤 | 第37-38页 |
| §5-3 本章小结 | 第38-39页 |
| 第六章 控制器模块的测试 | 第39-45页 |
| §6-1 模型机的控制器功能分析 | 第39页 |
| §6-2 控制器模块的测试设计与实现 | 第39-44页 |
| 6-2-1 控制器的被测功能芯片 | 第39-40页 |
| 6-2-2 测试所需的硬件连线布局 | 第40-41页 |
| 6-2-3 控制器测试流程的分析与设计 | 第41-43页 |
| 6-2-4 测试控制器的详细步骤 | 第43-44页 |
| §6-3 本章小结 | 第44-45页 |
| 第七章 其他辅助电路的测试 | 第45-51页 |
| §7-1 条件转移电路的功能分析 | 第45-46页 |
| §7-2 条件转移电路的测试设计与实现 | 第46-50页 |
| 7-2-1 条件转移电路的被测功能芯片 | 第46-47页 |
| 7-2-2 测试所需的硬件连线布局 | 第47页 |
| 7-2-3 条件转移电路测试流程的分析与设计 | 第47-48页 |
| 7-2-4 测试条件转移电路的详细步骤 | 第48-50页 |
| §7-3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第八章 总结和展望 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 附录 A | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第57页 |
