| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| ·研究背景 | 第9页 |
| ·光子晶体光纤 | 第9-11页 |
| ·光子晶体光纤的概念及特性 | 第9-11页 |
| ·光子晶体光纤的应用 | 第11页 |
| ·光子晶体光纤熔接国内外研究进展 | 第11-15页 |
| ·过渡光纤熔接法 | 第12页 |
| ·光纤后处理熔接法 | 第12-13页 |
| ·灯丝熔接法 | 第13页 |
| ·CO_2激光器熔接法 | 第13-14页 |
| ·电弧熔接法 | 第14-15页 |
| ·本论文的主要研究内容及意义 | 第15-17页 |
| 2 单模光纤与光子晶体光纤熔接理论分析 | 第17-33页 |
| ·光纤熔接放电参数及其对损耗的影响 | 第17-24页 |
| ·电弧放电能量分析 | 第17-18页 |
| ·热量传递 | 第18-20页 |
| ·基于有限元法的放电温度分析及优化 | 第20-24页 |
| ·熔接重叠距离优化研究 | 第24-28页 |
| ·纤芯位置偏移损耗分析 | 第25-26页 |
| ·重叠距离力学研究 | 第26-27页 |
| ·基于有限元法的重叠距离分析及优化 | 第27-28页 |
| ·光纤熔接残余应力与熔接点强度分析 | 第28-29页 |
| ·残余应力分析 | 第28页 |
| ·熔接点机械强度分析 | 第28-29页 |
| ·光子晶体光纤熔接损耗分析 | 第29-31页 |
| ·模场失配损耗 | 第29-30页 |
| ·空气孔塌陷损耗 | 第30页 |
| ·熔接端面反射损耗 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 3 单模光纤与光子晶体光纤熔接实验研究 | 第33-59页 |
| ·熔接过程中单模光纤结构参数变化研究 | 第33-35页 |
| ·单模光纤掺杂扩散及折射率变化 | 第33-34页 |
| ·单模光纤受热区域模场变化及传输损耗研究 | 第34-35页 |
| ·实芯光子晶体光纤熔接 | 第35-47页 |
| ·空气孔塌陷研究 | 第35-38页 |
| ·模场匹配及耦合损耗研究 | 第38-43页 |
| ·充气熔接实验及结果分析 | 第43-47页 |
| ·空芯光子晶体光纤熔接 | 第47-57页 |
| ·空气孔塌陷研究 | 第48页 |
| ·熔接损耗研究 | 第48-51页 |
| ·充气熔接实验及结果分析 | 第51-54页 |
| ·腐蚀 SMF 插入熔接实验及结果分析 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 4 光子晶体光纤 F-P 干涉式温度传感器 | 第59-75页 |
| ·光纤高温传感器研究现状 | 第59页 |
| ·基于塌陷结构的全 SIO2光纤 FPI 传感器 | 第59-65页 |
| ·全 SiO_2光纤 FPI 传感器的制作及结构分析 | 第60-65页 |
| ·全 SiO_2光纤 FPI 传感器的测温原理 | 第65页 |
| ·全 SIO2光纤 FPI 传感器温度特性实验 | 第65-70页 |
| ·全 SiO_2光纤 FPI 传感器高温测量 | 第65-67页 |
| ·全 SiO_2光纤 FPI 传感器高温稳定性测试 | 第67-70页 |
| ·全 SIO2光纤 FPI 传感器优化 | 第70-72页 |
| ·FPI 传感器镀膜优化 | 第70-71页 |
| ·优化后的 FPI 传感器温度和折射率特性测试 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-75页 |
| 5 全文总结 | 第75-77页 |
| ·全文总结 | 第75-76页 |
| ·进一步工作 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-86页 |
| 附录 | 第86页 |
| 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第86页 |
| A. 期刊论文 | 第86页 |
| B. 会议论文 | 第86页 |