带钢表面缺陷预处理系统的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题背景 | 第10-11页 |
| ·国内外的研究现状及分析 | 第11-16页 |
| ·带钢表面检测系统的研究现状 | 第11-13页 |
| ·机器视觉检测在国内外的研究现状 | 第13-16页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第16-17页 |
| 第2章 带钢表面缺陷预处理系统及算法分析 | 第17-31页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·基于机器视觉的带钢表面检测系统 | 第17-19页 |
| ·图像采集层 | 第18页 |
| ·图像预处理层 | 第18-19页 |
| ·图像处理和操作控制层 | 第19页 |
| ·带钢表面常见的缺陷图像 | 第19-20页 |
| ·图像滤波技术介绍 | 第20-21页 |
| ·均值滤波法 | 第20-21页 |
| ·中值滤波法 | 第21页 |
| ·图像分割技术介绍 | 第21-26页 |
| ·边缘检测梯度法 | 第22-24页 |
| ·迭代法 | 第24-25页 |
| ·一维类间方差法 | 第25-26页 |
| ·缺陷预处理算法的仿真和分析 | 第26-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 带钢表面缺陷预处理系统硬件设计 | 第31-52页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·带钢表面缺陷图像预处理系统的硬件电路的设计 | 第31-35页 |
| ·FPGA 芯片 | 第32-33页 |
| ·外部存储器芯片 | 第33页 |
| ·PCI 接口电路 | 第33-35页 |
| ·VGA 显示电路 | 第35页 |
| ·SOPC 技术 | 第35-38页 |
| ·SOPC 技术简介 | 第36-37页 |
| ·SOPC 系统的开发流程 | 第37-38页 |
| ·SOPC 系统的Avalon 总线 | 第38页 |
| ·SOPC 中使用和定制IP 核模块 | 第38-48页 |
| ·SDRAM 控制器 IP 核的使用 | 第38-40页 |
| ·PCI 接口IP 核设计 | 第40-45页 |
| ·VGA 显示IP 核设计 | 第45-48页 |
| ·基于SOPC 的NiosⅡ系统平台的集成 | 第48-51页 |
| ·NiosⅡ系统的定制 | 第48-50页 |
| ·集成NiosⅡ系统到QuartusⅡ | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 带钢表面缺陷预处理系统软件设计 | 第52-62页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·NiosⅡ软核处理器 | 第52-54页 |
| ·NiosⅡ系统的集成开发环境NiosⅡIDE | 第53页 |
| ·NiosⅡIDE 工程结构 | 第53-54页 |
| ·HAL 硬件抽象层 | 第54-56页 |
| ·HAL 硬件抽象层概念 | 第54-55页 |
| ·设备的HAL 驱动开发 | 第55-56页 |
| ·NiosⅡIDE 程序设计 | 第56-59页 |
| ·图像预处理系统在PC 机的驱动设计 | 第59-61页 |
| ·EEPROM 的配置文件 | 第59页 |
| ·PCI 接口芯片的 I2C 配置 | 第59-60页 |
| ·WinDriver 驱动开发 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 带钢表面缺陷预处理系统实验分析 | 第62-67页 |
| ·引言 | 第62页 |
| ·实验平台 | 第62-64页 |
| ·图像预处理实验 | 第64-66页 |
| ·实验目的和内容 | 第64页 |
| ·实验结果 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
