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HALT/HASS在光电通讯产品研发验证中的应用

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
第一章 引言第8-14页
   ·课题背景第8-10页
   ·可靠性验证的现状第10-11页
   ·可靠性验证的一般方法第11页
   ·面临的主要问题第11-12页
   ·解决策略第12-13页
   ·研究方向及其重点第13-14页
第二章 新产品研发与可靠性验证第14-32页
   ·可靠性验证的基本原理第14-17页
     ·什么是可靠性第14-15页
     ·可靠性寿命预估第15-17页
   ·可靠性试验在新产品研发中的作用第17-19页
     ·新产品研发的不同阶段第17-18页
     ·新产品的可靠性验证计划第18-19页
   ·常用可靠性验证试验及其原理第19-24页
     ·高温高湿电压偏置第19-20页
     ·温度循环第20-21页
     ·温度冲击第21-22页
     ·高低温存储试验第22-23页
     ·湿度循环第23页
     ·机械冲击第23-24页
     ·振动第24页
   ·高加速寿命/加速筛选(HALT/HASS)试验第24-32页
     ·高加速寿命试验HALT的历史及发展第24-26页
     ·HALT/HASS试验目的分析方法及其优点第26-28页
     ·HALT试验流程第28-30页
     ·高加速应力筛选第30-31页
     ·HALT/HASS的硬件要求第31-32页
第三章 HALT/HASS替代可靠性试验方法的制定第32-45页
   ·试验方案的构思第32-36页
     ·HALT/HASS与传统试验的替代关系第32页
     ·HALT/HASS的适用范围第32-33页
     ·HALT与MTBF FIT的关系第33-34页
     ·HALT传统可靠性试验的换算关系第34页
     ·设计预验证第34页
     ·合理的HALT企业标准第34-35页
     ·HASS替代burn in第35-36页
     ·HALT后失效的应变第36页
   ·试验制定第36-41页
   ·测试前后功能验证测试第41-42页
   ·测试使用的设备第42-43页
   ·试验现场第43-44页
   ·小结第44-45页
第四章 试验结果及结果分析第45-60页
   ·试验结果第45-55页
   ·结果分析第55-57页
   ·工作流程改进第57页
   ·小结第57-60页
第五章 总结和展望第60-61页
参考文献第61-62页
致谢第62-63页

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