基于RSD开关的高功率窄脉冲发生与特性研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-12页 |
| 1 绪论 | 第12-32页 |
| ·脉冲功率技术及其应用 | 第12-15页 |
| ·脉冲功率技术概述 | 第12-13页 |
| ·脉冲功率系统的组成与分类 | 第13-14页 |
| ·脉冲功率技术的应用 | 第14-15页 |
| ·脉冲功率技术的关键技术与研究现状 | 第15-28页 |
| ·高功率开关技术 | 第15-22页 |
| ·脉冲压缩技术 | 第22-24页 |
| ·计算机仿真技术 | 第24-27页 |
| ·脉冲测量技术 | 第27-28页 |
| ·新型高速半导体开关RSD | 第28-30页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第30-32页 |
| 2 高压RSD 开关的触发技术研究 | 第32-47页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·高压RSD 开关的谐振触发技术研究 | 第32-41页 |
| ·谐振触发电路结构 | 第32-33页 |
| ·谐振触发的实验研究 | 第33-34页 |
| ·晶闸管串联的同步触发技术 | 第34-38页 |
| ·高压RSD 开关谐振触发参数设计方法 | 第38-41页 |
| ·高压RSD 开关的变压器触发技术研究 | 第41-45页 |
| ·变压器触发电路结构 | 第41-42页 |
| ·可饱和变压器的设计 | 第42-44页 |
| ·电容参数的影响 | 第44-45页 |
| ·两种触发技术对比 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 3 磁开关和磁脉冲压缩技术 | 第47-64页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·电磁场的基本知识 | 第47-48页 |
| ·磁开关的基本理论 | 第48-52页 |
| ·磁芯材料的选择及去磁复位 | 第52-55页 |
| ·磁芯材料的选择 | 第52-54页 |
| ·磁开关的去磁复位 | 第54-55页 |
| ·磁开关的脉冲磁化特性研究 | 第55-58页 |
| ·磁脉冲压缩技术原理 | 第58-61页 |
| ·大功率激光器磁压缩网络设计 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 4 基于RSD 开关的窄脉冲放电特性及分析 | 第64-70页 |
| ·引言 | 第64页 |
| ·RSD 开关的电压响应特性 | 第64-66页 |
| ·RSD 开关的大电流特性 | 第66-68页 |
| ·RSD 开关的高 di/dt 特性 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 5 窄脉冲大电流的测量技术 | 第70-88页 |
| ·引言 | 第70页 |
| ·电阻分流器测量技术 | 第70-77页 |
| ·低感分流器的结构 | 第70-72页 |
| ·同轴分流器的理论分析 | 第72-77页 |
| ·电阻分流器的测量特点 | 第77页 |
| ·Rogowski 线圈测量技术 | 第77-87页 |
| ·Rogowski 线圈的基本原理 | 第78页 |
| ·Rogowski 线圈的优点 | 第78-79页 |
| ·Rogowski 线圈的两种工作状态 | 第79-81页 |
| ·自积分Rogowski 线圈的波形畸变及校正 | 第81-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 6 RSD PSpice 子电路模型的研究 | 第88-100页 |
| ·引言 | 第88页 |
| ·半导体器件模型的分类 | 第88-90页 |
| ·RSD 物理模型 | 第90-96页 |
| ·RSD PSpice 子电路模型及验证 | 第96-99页 |
| ·模型的建立及参数的确定 | 第96-98页 |
| ·模型的验证与分析 | 第98-99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 7 总结与展望 | 第100-102页 |
| ·全文总结 | 第100-101页 |
| ·工作展望 | 第101-102页 |
| 致谢 | 第102-103页 |
| 参考文献 | 第103-112页 |
| 附录I 攻读博士学位期间发表的论文 | 第112页 |
