| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·课题的提出 | 第8-9页 |
| ·课题的意义 | 第9页 |
| ·课题来源和论文的主要贡献 | 第9页 |
| ·论文结构 | 第9-11页 |
| 第二章 SOC 设计介绍 | 第11-16页 |
| ·集成电路发展趋势 | 第11页 |
| ·MPW 合作模式 | 第11页 |
| ·设计方法 | 第11-14页 |
| ·SOC 芯片设计面临的挑战 | 第14-16页 |
| 第三章 超深亚微米集成电路物理特性 | 第16-23页 |
| ·超深亚微米工艺电容效应 | 第16-17页 |
| ·时间估计模型 | 第17-18页 |
| ·信号完整性解决 | 第18-23页 |
| 第四章 快速验证VDSM 后端设计的 SVP 流程 | 第23-53页 |
| ·基于连续收敛设计流程 | 第23-25页 |
| ·开发环境介绍 | 第25-27页 |
| ·SVP 流程设计 | 第27-29页 |
| ·布局布线算法研究 | 第29-31页 |
| ·规划布局策略 | 第31-40页 |
| ·标准单元布局 | 第40-42页 |
| ·试验性布线 | 第42-43页 |
| ·TIMING分析 | 第43-44页 |
| ·时钟树综合策略 | 第44-50页 |
| ·电源完整性分析 | 第50-51页 |
| ·VIOLATIONS 修正 | 第51-53页 |
| 第五章 纳米布线技术 | 第53-60页 |
| ·纳米布线在后端中的流程图 | 第53-54页 |
| ·电源布线 | 第54-56页 |
| ·优先信号布线策略 | 第56-57页 |
| ·天线修正 | 第57-58页 |
| ·串扰分析 | 第58-60页 |
| 第六章 设计验证 | 第60-63页 |
| ·设计检查 | 第60-62页 |
| ·版图仿真 | 第62-63页 |
| 第七章 总结 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第68-69页 |
| 附录 | 第69-74页 |