| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·基本概念和术语 | 第9-10页 |
| ·交叉调试概念 | 第9-10页 |
| ·调试技术发展回顾及趋势 | 第10-13页 |
| ·Crash and Burn | 第11页 |
| ·ROM Monitor | 第11-12页 |
| ·ROM Emulator | 第12-13页 |
| ·Simulator | 第13页 |
| ·本文的研究背景 | 第13-14页 |
| ·本文的研究内容 | 第14-15页 |
| ·本文的章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 嵌入式交叉调试原理 | 第16-25页 |
| ·嵌入式软件交叉开发环境 | 第16-20页 |
| ·嵌入式交叉调试开发过程 | 第16-18页 |
| ·嵌入式交叉编译环境 | 第18-20页 |
| ·交叉编译配置过程 | 第19-20页 |
| ·硬件支持下的交叉调试原理 | 第20-24页 |
| ·BDM 调试(background debug mode) 概述 | 第20-21页 |
| ·BDM 硬件和BDM 协议 | 第21-22页 |
| ·实时在线仿真系统ICE(In-Circuit Emulator) | 第22-23页 |
| ·On Chip Debugging | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第三章 交叉调试器总体设计框架和核心技术 | 第25-46页 |
| ·调试器的总体设计 | 第25-30页 |
| ·宿主机系统设计 | 第26-27页 |
| ·目标机系统设计 | 第27-29页 |
| ·远程调试协议 | 第29-30页 |
| ·目标机调试代理的分类和功能 | 第30页 |
| ·交叉调试器的核心技术 | 第30-36页 |
| ·ELF 文件格式及调试信息的表示 | 第31-32页 |
| ·ELF 文件重要组成部分 | 第32-34页 |
| ·ELF 文件重定位的实现 | 第34-36页 |
| ·ELF文件中调试信息的表示 | 第36-40页 |
| ·调试信息的产生过程 | 第36页 |
| ·stabs 调试信息表示格式 | 第36-39页 |
| ·ELF 目标文件中.stab 节 | 第39-40页 |
| ·调试器对调试信息的处理过程分析 | 第40-45页 |
| ·BFD 库支持与核心结构 | 第40-43页 |
| ·关键调试功能实现 | 第43-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第四章 内核级调试代理的设计与实现 | 第46-61页 |
| ·内核级调试的概念?原理 | 第46页 |
| ·Linux内核级调试的应用领域 | 第46-49页 |
| ·调试Linux 内核 | 第46-47页 |
| ·调试可加载模块 | 第47-49页 |
| ·Linux内核级几种调试机制的分析 | 第49-53页 |
| ·用打印消息调试 | 第49-50页 |
| ·通过查询调试 | 第50-51页 |
| ·通过监视调试 | 第51-52页 |
| ·Oops 分析 | 第52-53页 |
| ·内核级调试代理设计 | 第53-55页 |
| ·内核级调试代理系统结构 | 第53-55页 |
| ·内核级调试代理的实现 | 第55-60页 |
| ·调试代理初始化模块 | 第55-57页 |
| ·中断处理模块的实现 | 第57页 |
| ·命令处理模块的实现 | 第57-59页 |
| ·其它功能处理模块的实现 | 第59-60页 |
| ·调试通信模块的实现 | 第60页 |
| ·接口模块的实现 | 第60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第五章 应用级调试代理的设计与实现 | 第61-80页 |
| ·基于Linux应用级的几种调试方法分析 | 第61-65页 |
| ·系统调用ptrace 实现原理 | 第61-64页 |
| ·利用proc 文件系统实现调试 | 第64-65页 |
| ·应用级调试代理的设计 | 第65-69页 |
| ·应用级调试代理的结构设计 | 第66-67页 |
| ·调试代理的重要数据结构 | 第67-69页 |
| ·应用级调试代理的实现 | 第69-79页 |
| ·小结 | 第79-80页 |
| 第六章 基于硬件 JTAG 接口的调试 | 第80-103页 |
| ·基于硬件的调试原理与分类 | 第80-81页 |
| ·实时在线仿真系统 ICE(In-Circuit Emulator) | 第80-81页 |
| ·JTAG方式的原理和接口 | 第81-86页 |
| ·JTAG 接口的内部结构 | 第81-82页 |
| ·JTAG 引脚定义 | 第82-84页 |
| ·TAP 控制转换图 | 第84-85页 |
| ·JTAG 的寄存器扫描 | 第85页 |
| ·JTAG 闪存编程层次图 | 第85-86页 |
| ·ARM7TDMI芯片中硬件调试的设计 | 第86-87页 |
| ·JTAG调试器的结构 | 第87-88页 |
| ·ARM7TDMI中各种调试操作的实现 | 第88-102页 |
| ·ARM 系列目标机模块实现 | 第88-92页 |
| ·ARM7TDMI 目标机操作函数的实现 | 第92-96页 |
| ·对Flash 芯片的支持部分 | 第96-98页 |
| ·命令解析部分的实现 | 第98-102页 |
| ·小结 | 第102-103页 |
| 第七章 总结与展望 | 第103-105页 |
| ·论文完成的工作与特色 | 第103页 |
| ·存在的问题与不足 | 第103-104页 |
| ·进一步研究的方向及建议 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-107页 |
| 致谢 | 第107-108页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第108页 |
| 1. 个人简历 | 第108页 |
| 2. 研究生期间的项目简介 | 第108页 |
| 3. 论文发表 | 第108页 |
| 4. 研究生期间所获奖励 | 第108页 |
