电迁移寿命预警电路设计

摘要	第1-5页
Abstract	第5-6页
目录	第6-8页
Contents	第8-10页
第一章 绪论	第10-17页
·研究背景	第10-13页
·国内外技术发展现状分析	第13-16页
·本课题的来源及主要研究任务	第16-17页
第二章 预兆单元法	第17-25页
·预兆单元法原理	第17-18页
·集成电路失效机理研究	第18-24页
·与时间有关的电介质击穿	第18-20页
·热载流子效应	第20-22页
·电迁移	第22-23页
·静电放电	第23-24页
·本章小结	第24-25页
第三章 电迁移预警电路各模块实现方式	第25-54页
·电路原理图的设计	第25-26页
·电流源	第26-34页
·高电源抑制比的电流	第27-30页
·与温度无关的基准	第30-32页
·带隙基准	第32-34页
·比较器	第34-48页
·比较器的特性	第34-37页
·比较器的分类及结构	第37-48页
·电阻	第48-53页
·阱电阻	第48-49页
·p+/n+电阻	第49页
·多晶硅电阻	第49-51页
·金属电阻	第51页
·MOS管电阻	第51-53页
·本章小结	第53-54页
第四章 预警电路设计及仿真	第54-67页
·整体电路设计	第54-57页
·电流源模块	第55-56页
·比较器模块	第56-57页
·电阻模块	第57页
·电路仿真	第57-66页
·瞬态分析	第60-63页
·直流分析	第63-66页
·本章小结	第66-67页
第五章 结论	第67-68页
参考文献	第68-72页
攻读学位期间发表的论文	第72-74页
致谢	第74页