| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·研究背景和目的 | 第9-10页 |
| ·研究方法和流程 | 第10-11页 |
| ·论文的结构 | 第11页 |
| ·论文的主要工作 | 第11-13页 |
| 第二章 传统的验证方法学与验证技术 | 第13-23页 |
| ·验证及其在集成电路中的重要作用 | 第13-15页 |
| ·常用的设计与验证的关系 | 第15-17页 |
| ·自顶而下的设计与验证 | 第15-16页 |
| ·基于平台的设计与验证 | 第16-17页 |
| ·传统的验证方法学 | 第17-19页 |
| ·基于HDL 的验证 | 第17-18页 |
| ·面向对象的验证 | 第18页 |
| ·随机激励生成的验证 | 第18-19页 |
| ·基于测试平台的验证 | 第19页 |
| ·传统的验证技术 | 第19-22页 |
| ·直接测试和随机测试 | 第19页 |
| ·黑盒测试和白盒测试 | 第19-21页 |
| ·基于覆盖率的验证 | 第21-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第三章 主流的验证方法和基于E 语言的验证平台结构 | 第23-37页 |
| ·主流的验证方法 | 第23-28页 |
| ·全自动的验证方法 | 第23-24页 |
| ·基于断言的验证（Assertion Based Verification）方法 | 第24-25页 |
| ·形式验证 | 第25-26页 |
| ·半形式验证 | 第26-27页 |
| ·全时序的门级仿真 | 第27页 |
| ·FPGA 原型验证 | 第27-28页 |
| ·基于E 语言的功能验证平台结构 | 第28-34页 |
| ·E 语言介绍 | 第28-30页 |
| ·Specman Elite 介绍 | 第30页 |
| ·基于E 语言的功能验证平台的典型结构 | 第30-34页 |
| ·小结 | 第34-37页 |
| 第四章 验证方案与验证策略 | 第37-41页 |
| ·SoC 芯片 | 第37-39页 |
| ·SoC 芯片的特性 | 第37-38页 |
| ·SoC 芯片的典型结构 | 第38-39页 |
| ·SoC 芯片对验证工作的要求 | 第39页 |
| ·验证策略的提出 | 第39-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第五章 功能验证平台的搭建 | 第41-65页 |
| ·功能验证平台的整体架构 | 第41-44页 |
| ·基于模型比对的验证方法 | 第41-43页 |
| ·基于模型比对的功能验证平台 | 第43-44页 |
| ·搭建可重用的功能验证平台 | 第44-57页 |
| ·结合模块特点的功能验证环境的设计 | 第45-55页 |
| ·Config(配置模块) | 第46页 |
| ·Virtual Sequence(虚拟Sequence) | 第46-47页 |
| ·Agent | 第47-55页 |
| ·验证环境的工作流程 | 第55-56页 |
| ·验证环境的文件结构 | 第56-57页 |
| ·在模块和顶层之间实现层次化的功能验证 | 第57-59页 |
| ·自动功能验证平台在实际验证工作中的作用 | 第59-63页 |
| ·自动功能验证平台完成的工作 | 第59页 |
| ·仿真结果分析 | 第59-63页 |
| ·小结 | 第63-65页 |
| 第六章 结束语 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 研究成果 | 第71-72页 |
| 附录A：验证环境运行结果 | 第72-80页 |
