全场光学相干层析成像技术研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第1章 绪论 | 第8-12页 |
·引言 | 第8-9页 |
·光学相干层析成像技术的发展概况 | 第9-10页 |
·选题依据及课题来源 | 第10-11页 |
·选题依据 | 第10-11页 |
·课题来源 | 第11页 |
·本文的主要工作及内容安排 | 第11-12页 |
第2章 FF-OCT 成像基本理论 | 第12-23页 |
·低相干干涉 | 第12-14页 |
·光学外差探测 | 第14-15页 |
·OCT 及FF-OCT 原理 | 第15-18页 |
·OCT 原理 | 第15-16页 |
·FF-OCT 成像特点 | 第16-18页 |
·FF-OCT 系统的总体结构 | 第18-19页 |
·FF-OCT 信号的获取 | 第19-22页 |
·本章小结 | 第22-23页 |
第3章 系统设计与研制 | 第23-44页 |
·光源与系统分辨特性 | 第23-31页 |
·纵向分辨率 | 第24-26页 |
·组合光源选择 | 第26-29页 |
·横向分辨率 | 第29-31页 |
·系统的传递函数 | 第31-34页 |
·系统的纵向相干传递函数 | 第32-33页 |
·系统的横向相干传递函数 | 第33-34页 |
·光机结构设计 | 第34-37页 |
·精密机械与控制系统 | 第34-36页 |
·Z-X 二维反射镜工作台设计 | 第36-37页 |
·参考光调制 | 第37-43页 |
·移相装置(PZT) | 第37-38页 |
·PZT 控制实验 | 第38-40页 |
·数字移相电路设计 | 第40-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第4章 实验结果 | 第44-51页 |
·实验系统 | 第44页 |
·系统调试 | 第44-48页 |
·信号光和参考光在干涉面的重合 | 第44-45页 |
·物面与参考面等光程的调节 | 第45页 |
·CCD 摄像机设定 | 第45页 |
·数字控制器调整 | 第45-48页 |
·样品实验 | 第48-50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
第五章 全文总结 | 第51页 |