窄线宽半导体激光器线宽测量系统的设计与实现
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
1 绪论 | 第7-12页 |
·研究背景和意义 | 第7-8页 |
·光谱线宽测试系统的发展 | 第8-10页 |
·本文主要研究内容 | 第10-12页 |
2 光纤外差法测量激光器线宽基本原理 | 第12-24页 |
·半导体激光器光谱线型及谱宽特性分析 | 第12-17页 |
·单色光和准单色光的时频特性分析对比 | 第12-15页 |
·光源光场功率谱密度分析 | 第15-17页 |
·光纤马赫—曾德干涉系统分析 | 第17-21页 |
·马赫—曾德光纤干涉仪的系统结构 | 第17-18页 |
·光源线宽对光纤干涉仪的影响 | 第18-21页 |
·基于马赫—曾德系统的外差法测量光源线宽 | 第21-23页 |
·自外差测量系统的设计 | 第21-22页 |
·光电流功率谱密度分析 | 第22-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
3 光纤外差法线宽测量系统方案设计分析 | 第24-35页 |
·长光纤法测量线宽的方案设计 | 第24-29页 |
·长光纤法测量线宽的基本原理 | 第24-25页 |
·长光纤法测量激光线宽对整体光路的具体要求 | 第25-29页 |
·短光纤法测量激光线宽方案设计 | 第29-34页 |
·短光纤法测量激光线宽原理 | 第29-31页 |
·短光纤法测量激光线宽的具体实现 | 第31-33页 |
·短光纤法分辨率及系统误差分析 | 第33-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
4 基于Matlab的系统仿真及实际光源线宽测试 | 第35-47页 |
·对长光纤法测量激光线宽的仿真 | 第35-36页 |
·对短光纤法测量激光线宽的仿真 | 第36-39页 |
·短光纤法测量激光线宽实验 | 第39-46页 |
·短光纤法线宽测量系统的搭建 | 第39-40页 |
·短光纤法线宽测量系统的参数分析 | 第40-43页 |
·实验数据及误差分析 | 第43-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
5 系统改进方案及误差来源分析 | 第47-54页 |
·加声光移频器的系统原理分析 | 第47-49页 |
·光纤色散特性对系统的影响 | 第49-51页 |
·光电探测器件噪声分析 | 第51-53页 |
·散粒噪声对系统的影响 | 第52页 |
·热噪声对系统的影响 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
6 全文总结 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-58页 |