| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 图录 | 第10-12页 |
| 符号说明 | 第12-13页 |
| 第一章绪论 | 第13-20页 |
| ·BOUNDARY-SCAN 背景介绍 | 第13-15页 |
| ·BSCAN 接口定义 | 第15页 |
| ·BSCAN TAP 介绍 | 第15-17页 |
| ·BSCAN CELL 介绍 | 第17页 |
| ·JTAG 指令 | 第17-20页 |
| 第二章GOPEL BSCAN 测试设备以及测试环境 | 第20-23页 |
| ·测试设备--PPSV3 的结构 | 第20-21页 |
| ·测试操作界面 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章测试向量的生成 | 第23-40页 |
| ·网表的转换，元器件库的定义以及SCANPATH 的生成 | 第23-28页 |
| ·DFT 文件准备 | 第23页 |
| ·CAD 文件导入 | 第23-24页 |
| ·模块与设备的NETLIST 的合并 | 第24-25页 |
| ·元器件库定义 | 第25-26页 |
| ·NETLIST 与元器件库的连接 | 第26-27页 |
| ·JTAG 链路的构建 | 第27-28页 |
| ·测试向量的生成 | 第28-39页 |
| ·JTAG 链路测试 | 第28-30页 |
| ·互连测试 | 第30-34页 |
| ·RAM 测试算法 | 第34-36页 |
| ·走步1 算法（WALK-1） | 第35页 |
| ·走步0 算法（WALK-0） | 第35页 |
| ·改良记数序列算法 | 第35-36页 |
| ·记数/补偿算法 | 第36页 |
| ·等权值抗混迭算法 | 第36页 |
| ·簇测试 | 第36-38页 |
| ·CPLD 器件的编程 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章测试效率以及覆盖率提高 | 第40-64页 |
| ·RAM 测试效率的提高 | 第40-46页 |
| ·RAM 测试算法综合分析与改进 | 第40-42页 |
| ·RAM 测试的故障定位分析 | 第42-44页 |
| ·测试向量效率的结果分析 | 第44-46页 |
| ·测试覆盖率的提高 | 第46-58页 |
| ·led 的测试 | 第46-47页 |
| ·时钟信号的测试 | 第47-49页 |
| ·电源的控制 | 第49-50页 |
| ·开关的测试 | 第50-52页 |
| ·低通电路的测试 | 第52-53页 |
| ·I~2C 接口的EEPROM 的测试 | 第53-56页 |
| ·TCK 的测试 | 第56-57页 |
| ·其他的手动(Manual)测试 | 第57页 |
| ·测试覆盖率的结果分析 | 第57-58页 |
| ·FLASH 测试及编程 | 第58-59页 |
| ·测试流程的编程 | 第59-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章总结与展望 | 第64-66页 |
| ·论文总结 | 第64页 |
| ·展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录1 采用MSCA 算法编写的RAM 程序 | 第68-84页 |
| 附录2 系统测试报告 | 第84-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第91页 |