基于共振隧穿器件RTD的二值和三值电路研究与设计
致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-10页 |
目次 | 第10-13页 |
1 绪论 | 第13-20页 |
·引言 | 第13-14页 |
·学位论文的研究背景及意义 | 第14-17页 |
·本文的主要研究内容 | 第17-19页 |
·本章小结 | 第19-20页 |
2 RTD和三端RT器件 | 第20-44页 |
·共振隧穿二极管RTD | 第20-36页 |
·共振隧穿二极管RTD的研究背景 | 第20-22页 |
·RTD的结构及特性 | 第22-24页 |
·RTD的工作原理 | 第24-25页 |
·RTD的应用 | 第25-35页 |
·RTD的仿真 | 第35-36页 |
·三端共振隧穿器件 | 第36-42页 |
·RTT的结构 | 第37-40页 |
·三端共振隧穿器件的特性 | 第40-41页 |
·三端共振隧穿器件的应用 | 第41-42页 |
·共振隧穿器件应用电路发展趋势 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
3 二值RTD基本逻辑运算单元 | 第44-49页 |
·基于RTD的二值两输入端与非单元设计 | 第44-46页 |
·基于RTD的二值两输入端或非单元设计 | 第46-47页 |
·本章小结 | 第47-49页 |
4 二值RTD触发器电路设计方法 | 第49-63页 |
·MOBILE单元 | 第49-52页 |
·MOBILE结构及特性 | 第50-51页 |
·MOBILE工作原理 | 第51-52页 |
·共振隧穿RS锁存单元 | 第52-54页 |
·基于MOBILE的JK触发器设计 | 第54-57页 |
·基于MOBILE的JK触发器 | 第54-56页 |
·基于MOBILE的JK触发器预置功能实现 | 第56-57页 |
·基于RS锁存器的D触发器设计方法 | 第57-62页 |
·共振隧穿1-of-2数据选择器 | 第57-59页 |
·共振隧穿D锁存器 | 第59-60页 |
·基于RS锁存器的D触发器设计方法 | 第60页 |
·可置位复位的共振隧穿D触发器电路 | 第60-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
5 共振隧穿电路翻转-传输代数系统的建立 | 第63-73页 |
·开关-信号理论 | 第63-65页 |
·RT电路中的翻转-传输代数系统 | 第65-69页 |
·翻转-传输理论在RT电路中的应用 | 第69-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
6 二值RTD电路的可测试性设计 | 第73-81页 |
·可测试性设计概述 | 第73-74页 |
·故障模型及相应制造测试技术 | 第74-75页 |
·RT电路的基本故障分析与建模 | 第75-77页 |
·二值共振隧穿电路可测试性设计方案 | 第77-79页 |
·本章小结 | 第79-81页 |
7 基于RTD的三值逻辑基本运算单元设计 | 第81-93页 |
·多值逻辑研究的意义 | 第81-82页 |
·多值RTD电路及其应用 | 第82-83页 |
·三值RTD以及RTD+HEMT | 第83-85页 |
·传统三值RTD量化器电路及开关序列工作原理 | 第85-86页 |
·改进型三值RTD量化器 | 第86-88页 |
·三值RTD运算单元设计 | 第88-92页 |
·二输入端三值RTD与非单元设计 | 第89-91页 |
·二输入端三值RTD或非单元设计 | 第91-92页 |
·本章小结 | 第92-93页 |
8 基于RTD文字电路的三值触发器设计 | 第93-103页 |
·三值代数系统中的文字运算及其性质 | 第93-94页 |
·RTD文字电路 | 第94-98页 |
·基于RTD文字电路的三值D触发器设计 | 第98-102页 |
·三轨输出的三值RTD D触发器设计 | 第98-100页 |
·具有置位复位功能的三值RTD D触发器 | 第100-102页 |
·本章小结 | 第102-103页 |
9 三值RTD电路的可测试设计 | 第103-109页 |
·三值RTD电路故障模型 | 第103页 |
·三值RTD电路开路和短路故障 | 第103-105页 |
·三值RTD电路的测试网络 | 第105-106页 |
·测试结果 | 第106-108页 |
·本章小结 | 第108-109页 |
结论 | 第109-113页 |
参考文献 | 第113-134页 |
作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第134-136页 |