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电子电器产品缺陷风险评估方法研究

致谢第4-5页
摘要第5-6页
Abstract第6-7页
1 引言第11-12页
2 文献综述第12-37页
    2.1 电子电器产品缺陷概述第12-16页
        2.1.1 电子电器产品分类第12-13页
        2.1.2 电子电器产品缺陷分析第13-16页
    2.2 电子电器产品国内外召回研究现状第16-26页
        2.2.1 国外产品召回研究现状第16-23页
        2.2.2 国内产品召回研究现状第23-26页
    2.3 风险评估理论与方法研究现状第26-34页
        2.3.1 风险评估理论研究现状第26-27页
        2.3.2 风险评估方法研究现状第27-34页
    2.4 研究内容和方法第34-37页
        2.4.1 研究内容第34页
        2.4.2 研究方法第34-36页
        2.4.3 技术路线第36-37页
3 电子电器产品缺陷伤害模式研究第37-61页
    3.1 电子电器产品国内外召回数据分析第37-41页
        3.1.1 国外电子电器产品缺陷召回数据分析第37-39页
        3.1.2 国内电子电器产品缺陷召回数据分析第39-41页
    3.2 电子电器产品缺陷伤害类别及伤害机理研究第41-46页
    3.3 基于案例推理的电子电器产品缺陷伤害模式分析第46-60页
        3.3.1 案例推理基本原理及算法描述第47-48页
        3.3.2 电子电器产品缺陷伤害模式分析第48-60页
    3.4 本章小结第60-61页
4 电子电器产品缺陷风险传递路径研究第61-81页
    4.1 风险传递概述第61-62页
        4.1.1 风险演变及风险传递第61-62页
        4.1.2 风险传递路径分类第62页
    4.2 电子电器产品缺陷风险传递路径研究第62-68页
        4.2.1 电子电器产品风险传递过程研究第62-65页
        4.2.2 电子电器产品缺陷风险传递路径模型研究第65-68页
    4.3 基于FTA、ETA和Bow-tie对手机电池风险传递路径分析第68-80页
        4.3.1 手机电池安全性试验第68-71页
        4.3.2 手机电池失效分析第71-73页
        4.3.3 事故场景模拟第73-75页
        4.3.4 手机电池缺陷风险传递路径研究第75-80页
    4.4 本章小结第80-81页
5 电子电器产品缺陷影响因子指标体系构建第81-103页
    5.1 缺陷影响因子概念及作用机理第81-82页
        5.1.1 缺陷影响因子概念第81页
        5.1.2 缺陷影响因子作用机理第81-82页
    5.2 缺陷影响因子体系构建及权重计算第82-95页
        5.2.1 缺陷影响因子体系的构建原则第82-83页
        5.2.2 缺陷影响因子体系的构建步骤第83-84页
        5.2.3 电子电器产品缺陷影响因子指标体系第84-91页
        5.2.4 指标体系权重计算第91-95页
    5.3 电子电器产品零部件可靠性分析研究第95-102页
        5.3.1 零部件失效浴盆曲线分析第96-97页
        5.3.2 威布尔方法预测故障率第97-102页
    5.4 本章小结第102-103页
6 电子电器产品缺陷风险评估模型研究及应用第103-121页
    6.1 基于模糊综合评判确定学习样本第103-105页
    6.2 评估模型网络结构的建立第105-109页
        6.2.1 输入层、输出层单元数的确定第106页
        6.2.2 隐含层和隐含层单元数的确定第106-107页
        6.2.3 网络模型及学习参数的选取第107-108页
        6.2.4 样本数据的归一化处理第108-109页
    6.3 基于BP算法的缺陷评估模型构建第109-115页
        6.3.1 基本算法第109-110页
        6.3.2 程序的说明及重点解释第110-112页
        6.3.3 模型的训练和检验第112-115页
    6.4 案例应用第115-120页
        6.4.1 案例描述与分析第115-117页
        6.4.2 BP神经网络评估模型应用第117-120页
    6.5 本章小结第120-121页
7 结论第121-125页
    7.1 主要结论第121-122页
    7.2 主要创新点第122页
    7.3 展望第122-125页
参考文献第125-137页
附录A 关键零部件缺陷致因及伤害模式数据库(部分)第137-141页
附录B BP神经网络模型训练模块及仿真模块代码第141-160页
作者简历及在学研究成果第160-164页
学位论文数据集第164页

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