致谢 | 第4-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
1 引言 | 第11-12页 |
2 文献综述 | 第12-37页 |
2.1 电子电器产品缺陷概述 | 第12-16页 |
2.1.1 电子电器产品分类 | 第12-13页 |
2.1.2 电子电器产品缺陷分析 | 第13-16页 |
2.2 电子电器产品国内外召回研究现状 | 第16-26页 |
2.2.1 国外产品召回研究现状 | 第16-23页 |
2.2.2 国内产品召回研究现状 | 第23-26页 |
2.3 风险评估理论与方法研究现状 | 第26-34页 |
2.3.1 风险评估理论研究现状 | 第26-27页 |
2.3.2 风险评估方法研究现状 | 第27-34页 |
2.4 研究内容和方法 | 第34-37页 |
2.4.1 研究内容 | 第34页 |
2.4.2 研究方法 | 第34-36页 |
2.4.3 技术路线 | 第36-37页 |
3 电子电器产品缺陷伤害模式研究 | 第37-61页 |
3.1 电子电器产品国内外召回数据分析 | 第37-41页 |
3.1.1 国外电子电器产品缺陷召回数据分析 | 第37-39页 |
3.1.2 国内电子电器产品缺陷召回数据分析 | 第39-41页 |
3.2 电子电器产品缺陷伤害类别及伤害机理研究 | 第41-46页 |
3.3 基于案例推理的电子电器产品缺陷伤害模式分析 | 第46-60页 |
3.3.1 案例推理基本原理及算法描述 | 第47-48页 |
3.3.2 电子电器产品缺陷伤害模式分析 | 第48-60页 |
3.4 本章小结 | 第60-61页 |
4 电子电器产品缺陷风险传递路径研究 | 第61-81页 |
4.1 风险传递概述 | 第61-62页 |
4.1.1 风险演变及风险传递 | 第61-62页 |
4.1.2 风险传递路径分类 | 第62页 |
4.2 电子电器产品缺陷风险传递路径研究 | 第62-68页 |
4.2.1 电子电器产品风险传递过程研究 | 第62-65页 |
4.2.2 电子电器产品缺陷风险传递路径模型研究 | 第65-68页 |
4.3 基于FTA、ETA和Bow-tie对手机电池风险传递路径分析 | 第68-80页 |
4.3.1 手机电池安全性试验 | 第68-71页 |
4.3.2 手机电池失效分析 | 第71-73页 |
4.3.3 事故场景模拟 | 第73-75页 |
4.3.4 手机电池缺陷风险传递路径研究 | 第75-80页 |
4.4 本章小结 | 第80-81页 |
5 电子电器产品缺陷影响因子指标体系构建 | 第81-103页 |
5.1 缺陷影响因子概念及作用机理 | 第81-82页 |
5.1.1 缺陷影响因子概念 | 第81页 |
5.1.2 缺陷影响因子作用机理 | 第81-82页 |
5.2 缺陷影响因子体系构建及权重计算 | 第82-95页 |
5.2.1 缺陷影响因子体系的构建原则 | 第82-83页 |
5.2.2 缺陷影响因子体系的构建步骤 | 第83-84页 |
5.2.3 电子电器产品缺陷影响因子指标体系 | 第84-91页 |
5.2.4 指标体系权重计算 | 第91-95页 |
5.3 电子电器产品零部件可靠性分析研究 | 第95-102页 |
5.3.1 零部件失效浴盆曲线分析 | 第96-97页 |
5.3.2 威布尔方法预测故障率 | 第97-102页 |
5.4 本章小结 | 第102-103页 |
6 电子电器产品缺陷风险评估模型研究及应用 | 第103-121页 |
6.1 基于模糊综合评判确定学习样本 | 第103-105页 |
6.2 评估模型网络结构的建立 | 第105-109页 |
6.2.1 输入层、输出层单元数的确定 | 第106页 |
6.2.2 隐含层和隐含层单元数的确定 | 第106-107页 |
6.2.3 网络模型及学习参数的选取 | 第107-108页 |
6.2.4 样本数据的归一化处理 | 第108-109页 |
6.3 基于BP算法的缺陷评估模型构建 | 第109-115页 |
6.3.1 基本算法 | 第109-110页 |
6.3.2 程序的说明及重点解释 | 第110-112页 |
6.3.3 模型的训练和检验 | 第112-115页 |
6.4 案例应用 | 第115-120页 |
6.4.1 案例描述与分析 | 第115-117页 |
6.4.2 BP神经网络评估模型应用 | 第117-120页 |
6.5 本章小结 | 第120-121页 |
7 结论 | 第121-125页 |
7.1 主要结论 | 第121-122页 |
7.2 主要创新点 | 第122页 |
7.3 展望 | 第122-125页 |
参考文献 | 第125-137页 |
附录A 关键零部件缺陷致因及伤害模式数据库(部分) | 第137-141页 |
附录B BP神经网络模型训练模块及仿真模块代码 | 第141-160页 |
作者简历及在学研究成果 | 第160-164页 |
学位论文数据集 | 第164页 |