| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 专用术语注释表 | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 选题的背景与意义 | 第9-11页 |
| 1.1.1 选题的背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 选题的意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外最新研究成果 | 第11-14页 |
| 1.2.1 国外最新研究成果 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内最新研究成果 | 第12-14页 |
| 1.3 本文的研究工作 | 第14-15页 |
| 1.4 本文的组织安排 | 第15-16页 |
| 第二章 相关背景知识介绍 | 第16-32页 |
| 2.1 常见电路故障特征提取方法 | 第16-18页 |
| 2.1.1 基于独立成分分析的电路故障特征提取 | 第16-17页 |
| 2.1.2 基于小波变换的电路故障特征提取 | 第17页 |
| 2.1.3 基于主元分析的电路故障特征提取 | 第17-18页 |
| 2.2 基于HHT的电路故障特征提取 | 第18-24页 |
| 2.2.1 HHT方法概述 | 第18页 |
| 2.2.2 固有模态函数 | 第18-19页 |
| 2.2.3 EMD算法过程及仿真分析 | 第19-21页 |
| 2.2.4 EMD算法特性 | 第21-23页 |
| 2.2.5 Hilbert谱和Hilbert边际谱 | 第23-24页 |
| 2.3 基于SVDD的故障状态分类研究 | 第24-31页 |
| 2.3.1 支持向量数据描述 | 第24-27页 |
| 2.3.2 核函数的性质及常用核函数 | 第27-29页 |
| 2.3.3 基于SVDD故障分类问题研究 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 改进HHT算法和优化SVDD分类器 | 第32-45页 |
| 3.1 针对HHT的不足进行改进 | 第32-36页 |
| 3.1.1 端点延拓解决边界效应 | 第32-34页 |
| 3.1.2 相关系数法剔除虚假分量 | 第34页 |
| 3.1.3 EEMD解决模态混叠问题 | 第34-36页 |
| 3.2 基于优化SVDD分类研究 | 第36-40页 |
| 3.2.1 核函数及参数对SVDD性能影响 | 第36-38页 |
| 3.2.2 构造并寻找最优组合核SVDD | 第38-40页 |
| 3.3 模拟电路故障诊断算法仿真 | 第40-44页 |
| 3.3.1 改进HHT在Matlab中的实现 | 第40-41页 |
| 3.3.2 优化SVDD在Matlab中的实现 | 第41-42页 |
| 3.3.3 解决Pspice和Matlab的数据接口问题 | 第42-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 基于改进HHT和优化SVDD电路故障诊断研究 | 第45-55页 |
| 4.1 模拟电路故障诊断模型建立 | 第45-47页 |
| 4.2 模拟故障诊断实例 | 第47-52页 |
| 4.2.1 实验电路选取 | 第47-48页 |
| 4.2.2 故障注入和分类诊断 | 第48-52页 |
| 4.3 仿真结果分析 | 第52-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 基于OEMD和KFPCM_SVDD电路故障诊断研究 | 第55-64页 |
| 5.1 基于OEMD电路故障特征提取 | 第55-57页 |
| 5.2 基于KFPCM算法优化SVDD分类器 | 第57-58页 |
| 5.3 基于OEMD和KFPCM优化SVDD电路故障诊断模型 | 第58-59页 |
| 5.4 模拟电路故障诊断实例与分析 | 第59-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 6.1 总结 | 第64页 |
| 6.2 展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
