摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-16页 |
1.1 课题背景 | 第9-10页 |
1.2 结构健康监测中的应变传感器 | 第10页 |
1.3 厚膜电阻的发展 | 第10-13页 |
1.3.1 厚膜电子浆料 | 第10-12页 |
1.3.2 厚膜电阻基片 | 第12-13页 |
1.4 厚膜电阻传感器研究现状 | 第13-14页 |
1.5 已有研究中的问题 | 第14-15页 |
1.6 本文主要研究内容 | 第15-16页 |
第2章 厚膜基底的选择与性能分析 | 第16-33页 |
2.1 引言 | 第16页 |
2.2 实验材料与仪器 | 第16-18页 |
2.2.1 实验材料 | 第16-17页 |
2.2.2 实验仪器 | 第17-18页 |
2.3 实验方法 | 第18-20页 |
2.3.1 初步筛选 | 第18页 |
2.3.2 基底成分分析 | 第18-19页 |
2.3.3 基底力学性能测试 | 第19-20页 |
2.4 实验结果与讨论 | 第20-31页 |
2.4.1 初筛结果 | 第20-24页 |
2.4.2 基底成分 | 第24-29页 |
2.4.3 基底力学性能结果 | 第29-31页 |
2.5 本章小结 | 第31-33页 |
第3章 厚膜电阻的制作与表征 | 第33-56页 |
3.1 引言 | 第33页 |
3.2 实验材料与仪器 | 第33-35页 |
3.2.1 电子浆料 | 第33-34页 |
3.2.2 实验仪器 | 第34-35页 |
3.3 不同基底传感器制备 | 第35-40页 |
3.3.1 图形及尺寸设计 | 第35-37页 |
3.3.2 基底的加工与处理 | 第37页 |
3.3.3 浆料的印刷 | 第37-38页 |
3.3.4 烧结 | 第38页 |
3.3.5 样品图片 | 第38-40页 |
3.4 厚膜表面质量与界面表征 | 第40-51页 |
3.4.1 实验方法 | 第40-41页 |
3.4.2 实验结果 | 第41-51页 |
3.5 阻值稳定性 | 第51-55页 |
3.5.1 测试方法 | 第51-52页 |
3.5.2 实验结果与讨论 | 第52-55页 |
3.6 本章小结 | 第55-56页 |
第4章 传感器性能测试 | 第56-77页 |
4.1 引言 | 第56页 |
4.2 实验仪器 | 第56页 |
4.3 性能指标与测试方法 | 第56-60页 |
4.3.1 应变系数测量 | 第56-59页 |
4.3.2 多周循环荷载下的性能 | 第59页 |
4.3.3 电阻温度系数(TCR)测量方法 | 第59页 |
4.3.4 相对湿度(Relative Humidity)对厚膜电阻的影响 | 第59-60页 |
4.4 实验结果与分析 | 第60-76页 |
4.4.1 应变系数 | 第60-66页 |
4.4.2 多周循环荷载 | 第66-70页 |
4.4.3 电阻温度系数 | 第70-73页 |
4.4.4 湿度影响 | 第73-74页 |
4.4.5 砂浆埋置效果 | 第74-76页 |
4.5 本章小结 | 第76-77页 |
结论 | 第77-79页 |
参考文献 | 第79-84页 |
致谢 | 第84页 |