硅材料抗辐射能力噪声评价技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·研究现状 | 第7-8页 |
| ·研究目的和论文结构 | 第8-11页 |
| 第二章 硅材料抗辐射能力评价原理研究 | 第11-29页 |
| ·硅材料基本概念及应用 | 第11-12页 |
| ·硅材料与硅基器件 | 第11-12页 |
| ·硅材料技术参数与硅基器件性能 | 第12页 |
| ·硅材料辐射损伤机理与模型 | 第12-17页 |
| ·硅材料辐射损伤微观机理 | 第13-14页 |
| ·硅材料辐射损伤模型 | 第14-17页 |
| ·硅基器件的辐射效应 | 第17-21页 |
| ·单结晶体管的辐射效应 | 第17-19页 |
| ·太阳能电池的辐射效应 | 第19-21页 |
| ·材料与器件相结合的研究方法 | 第21-29页 |
| ·硅材料辐射缺陷对硅基器件的影响 | 第21-25页 |
| ·噪声与硅材料及器件缺陷 | 第25-26页 |
| ·材料辐射损伤-噪声测试样品研究方法 | 第26-29页 |
| 第三章 硅材料抗辐射能力噪声评价参量研究 | 第29-43页 |
| ·实验样品 | 第29-32页 |
| ·硅材料测试样品设计与制造 | 第29-31页 |
| ·硅基器件的选取 | 第31-32页 |
| ·辐照实验 | 第32-35页 |
| ·实验样品和实验条件 | 第32页 |
| ·实验测试平台 | 第32-33页 |
| ·实验方案 | 第33-34页 |
| ·实验操作 | 第34-35页 |
| ·辐照实验结果分析 | 第35-40页 |
| ·电学测试结果分析 | 第35-38页 |
| ·噪声测试结果分析 | 第38-40页 |
| ·硅材料抗辐射能力噪声评价参量优选 | 第40-43页 |
| ·灵敏评价参量优选原则 | 第40页 |
| ·噪声参量与电学参量对比 | 第40-42页 |
| ·噪声评价参量优选 | 第42-43页 |
| 第四章 硅材料抗辐射能力噪声评价技术研究 | 第43-61页 |
| ·抗辐射能力噪声评价理论基础 | 第43-48页 |
| ·硅材料的噪声评价理论基础 | 第43-46页 |
| ·硅光电池的噪声评价理论基础 | 第46-48页 |
| ·硅材料抗辐射能力噪声评价方法 | 第48-55页 |
| ·硅材料噪声评价方法概述 | 第48-49页 |
| ·参数提取方法 | 第49-51页 |
| ·硅材料及硅光电池噪声评价标准 | 第51-53页 |
| ·硅材料及硅光电池器件噪声评价流程 | 第53-55页 |
| ·硅材料噪声评价方法验证 | 第55-57页 |
| ·硅材料噪声评价方法应用 | 第57-61页 |
| ·硅单结晶体管筛选 | 第57-59页 |
| ·硅光电池筛选 | 第59-61页 |
| 第五章 结论与展望 | 第61-63页 |
| ·主要研究工作及结论 | 第61页 |
| ·展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-71页 |
| 在校期间研究成果 | 第71-72页 |
